EDX9000B Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析*ESI英飞思EDX9000B plus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物， 生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。EDX9000B plus优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行高精度的过程控制和质量控制。 具有全新真空光路系统和高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物（Na2O、MgO、Al2O₃、SiO₂、P2O5、SO₃、K2O、CaO、TiO₂、Cr2O₃、MnO、Fe2O₃、ZnO和SrO等）都可达到*分析效果。EDX9000B plus*的分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试：铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等) 铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等) 铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等) 钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等) 钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等) 钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等) 铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等) 镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等) 铝土矿 其它矿类产品特点1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析 2.可同时分析40种元素 3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术 4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供*的短期重复性和长期再现性以及*的元素峰分辨率 5.高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统 6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作 7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限>仪器参数

>仪器配置

全新设计的XTEST分析软件软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。 *光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 *对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。 *谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图 *可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。 *可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的*小二乘拟合进行定量分析。 *基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。铝土矿样品10次连续测试稳定性报告