高压加速老化寿命试验机

价格
电议

型号
PCT-35

品牌
www.kqtest.net

所在地
广东省 东莞市

更新时间
2019-03-07 17:40:02

浏览次数

     

     

    高压加速老化寿命试验机规格
             
    规格/SPEC:
    型 号 PCT - 25 PCT - 30 PCT - 35 PCT - 45
    内部尺寸(W×H×D)mm Φ250×300 Φ300×400 Φ300×500 Φ450×500
    外箱尺寸(W×H×D)mm 650×600×550 650×600×650 650×600×750 800×750×750
    使用温度 121℃;132℃;(143℃特殊选用)
    使用湿度 100%RH饱和蒸气湿度
    使用蒸气压力(压力) 1个环境大气压 +0.0Kg/cm2- 2.0Kg/cm2;(3.0Kg/cm2属于特殊规格)
    循环方式 水蒸气自然对流循环
    安全保护装置 缺水保护,压保护、 (具有自动/手动补水功能,自动泻压功能)
    配 件 不銹钢隔板两层
    电 源 AC220V,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz
             
    高压加速老化寿命试验机性能:      
             
    加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
    用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
    随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。
    注意事项:USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)      
             
    高压加速老化寿命试验机适用行业:      
             
    广泛应用于半导体,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 
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