金属镀层测厚仪EDX2000A配大面积SDD探测器和微小0.1mm准直孔，上照式结构设计满足各种不规则小面积镀层厚度分析，对博纳米级的电子件的镀金，镀银厚度也可以分析。金属镀层测厚仪EDX2000A由江苏天瑞仪器股份有限公司提供产品资料和报价。