SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫频光源，可应用于光学测量及分析系统的二次开发。

• 多功能
• C+L、O波段（可选）
• 可扩展扫频光源
• 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量
  

• 平面波导器件
• 硅光器件
• 光纤器件
• 波长可调器件、放大器、滤波器
• 光学测量分析二次开发

1. 1.可升级扫描范围；
2. 2.可升级动态范围到80dB；
3. 3.可升级高功率版本(2mW/5mW)。