ACS集成测试系统，实现基于实验室的自动化操作

产品开发周期和测试成本压力不断提高，意味着测试工程师必须用更少的投入做更多的工作。通过采用吉时利经过验证的仪器和测量功能，ACS综合测试系统添补了基于交互式实验室的工具与高吞吐量生产测试工具之间的重要空白。 应用指南 08 Aug 2016

探测集成电路触点级晶体管

Model 4200-SCS半导体特性分析系统

使用Mode 4200-SCS半导体特性分析系统在高阻抗器件上执行低频电容-电压测量

使用晶圆图参数选项及Cascade Nucleus探头软件和Model 4200-SCS

使用低噪声Model 4200-SCS进行低电流测量

使用Model 4200-SCS半导体特性分析系统分析MOS电容器的C-V特点

使用Model 4200-CVU-PWR C-V功率分析软件包及Model 4200-SCS半导体特性分析系统进行高电压和高电流C-V测量

适用于Model 4200-SCS：分析NVM特性，测量VLF C-V，同时进行更多的脉冲式或快速I-V测量

使用Model 4200-SCS半导体特性分析系统进行太阳能/光伏电池I-V和C-V测量

使用吉时利Model 4200-SCS监测MOSFET器件的通道热载波(CHC)劣化

使用Model 4200-SCS和Zyvex S100纳米操纵装置进行纳米线和纳米管I-V测量

使用Model 4200-SCS半导体特性分析系统优化低电流测量

使用Model 4200分析栅极介电电容-电压特性

使用4200-CVU电容-电压单元测量电感

改善Model 4200-SCS的测试速度和整体测试时间

使用Model 4200-SCS半导体特性分析系统和Series 3400脉冲/码型发生器进行电荷泵测量

使用Model 4200-SCS半导体特性分析系统执行电荷泵测量

修改吉时利互锁电缆236-ILC-3，用于Cascade 12000系列半自动探头

利用4200-SCS型参数分析仪，对碳纳米管晶体管(CNT FET)进行电气特性分析