测量近场发光强度，特别针对LED和其他小型光源

光源近场测量仪是一款全自动测角系统，能捕获光源近场输出的高精度模型。生产的图像数据和RSM提供了完整而*的光源输出特性，通过ProSource^®软件导入到任意主流光学设计包内。配合使用ProMetric^®成像色度计，SIG-400™则能为LED及其他小光源进行近场发光强度的*测量。通过优化SIG-400™设备进而满足LED研发人员及LED芯片和器件制造商的不同需求。

主要特色

• 针对 LED 芯片和器件测量进行了优化

• 有多种 CCD 分辨率和不同视场大小的镜头可供选择

• 提供亮度和色度近场模型 • 利用集成图像数据生成 Radiant Source Models™ 以供完整分析

• 新增功能 更简单、更直观的分光仪设置

应用

• LED 设计

• LED 封装设计

• LED 特性测量

• 为客户提供 LED 模型

优点

• 可采集图像和光线集数据

• 可生成行业标准的 Radiant Source Models™

• 可利用 ProSource® 将光线集导出 至所有主流光学设计程序

SIG 2.1 系统配置

• 2.0 GHz 或更快的处理器 • 1GB 或更大的 RAM

• Windows® 7 或 8

• USB 2.0 / 3.0 接口 • 以太网端口