牛津膜厚仪X-Strata920日立镀层测厚仪

牛津膜厚仪又叫牛津镀层测厚仪、金厚测量仪、金镍测量仪、X射线荧光测厚仪等等，不管是叫法他们所指的都是同一类产品。牛津膜厚仪X-Strata920可用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品.....多个行业表面镀层厚度的测量及材料分析，低成本，高效率。

X-Strata920这一*的工具可确保样品符合规格，同时通过避免过度电镀和返工来降低成本。操作员只需加载样品，将其定位在屏幕上的目标下方，使用激光焦点对齐，即可开始测量。结果在几秒内即可显示出来，然后操作员可快速执行下一个任务。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式，您将对结果的准确性充满信心。使用X-Strata920可遵从各种行业规范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

一、牛津膜厚仪X-Strata920工作原理及测量方法介绍

1.荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征

1)可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度

2)可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。

3)薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适 用于无铅焊锡的应用。 4)备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

2.测量原理 

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放 出来。荧光X射线镀层厚度测量或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

3.镀层厚度的测量方法

镀层厚度的测量可分为标准曲线法和FP法(基本参数法)2种。标准曲线法是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量示知样品，以得到镀层厚度或组成比率。

二、牛津膜厚仪X-Strata920的工作特点：

1.测量元素范围：钛Ti22---*U92；

2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；

3.测量精度高、稳定性好，测量结果**至μin；

4.快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；

5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；

6.进行贵金属检测，如Au karat评价；

7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；

8.强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、 大值、 小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；

9.结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；

10.测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；

11.激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦

12.拥有NIST的标准片；提供服务及技术服务。

三、牛津膜厚仪X-Strata920配置
1.X-Strata920测试主机
2.联想ThinkCentre计算机（原IBM）------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包
3.17吋戴尔Dell液晶显示器
4.佳能Canon彩色喷墨打印机
5.标准片组件（满足镀层需要）
四、牛津膜厚仪X-Strata920操作方法
*步：将产品放置在样品台上
无损分析，无需样品制备，开槽式样品仓便于放置产品，大样品台便于大面积产品（如：PCB）测量，配备了门开闭传感器，增强了安全性
第二步：一键完成视频聚焦
一键自动镭射聚焦，避免人为操作误差标配固定焦距12.7mm，选配变焦，高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置，画面清晰、测试点*定位；放大倍数：30倍（标配），50倍（选配）自动台：利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作
简单快速的多点分析
第三步：点击”GO”一键完成测量
1.几秒内显示结果
2.保存、打印或传输结果
3.测试结果可一键导出PDF（标配）、Excel（选配）
使用预置和客户自定义的报告模板