Nikon L200拥有CFI60光学系统用于集成电路检查显微镜,由此获得全所未有的高对比图像。使得物镜不仅工作距离更长,而且" target="_blank" href="https://www.testmart.cn/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=8409921&ss_c=ssc.citiao.">数值孔径更高:符合SEMI S293A,S8-95S设计;利用" target="_blank" href="https://www.testmart.cn/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=65470512&ss_c=ssc.citiao.">计算机辅助工程系统,对机身进行防震设计;具有全面的防污染措施。
适用于科学研究分析,材料分析,微电子观察,TFT 液晶检查,4寸 5寸 6寸 8寸半导体晶圆检查
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Nikon L200拥有CFI60光学系统用于集成电路检查显微镜,由此获得全所未有的高对比图像。使得物镜不仅工作距离更长,而且" target="_blank" href="https://www.testmart.cn/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=8409921&ss_c=ssc.citiao.">数值孔径 更高:符合SEMI S293A,S8-95S设计;利用" target="_blank" href="https://www.testmart.cn/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=65470512&ss_c=ssc.citiao.">计算机辅助工程 系统,对机身进行防震设计;具有全面的防污染措施。
适用于科学研究分析,材料分析,微电子观察,TFT 液晶检查,4寸 5寸 6寸 8寸半导体晶圆检查