品型号:日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪 简单介绍 日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪 说明:
LCR测试仪 3532-50元器件测量,LCR测试仪 3532-50搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪
测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位度自由调整,可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。
操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来
基本参数
测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位度自由调整 可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来 LCR测试仪 3532-50基本参数
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品型号:日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪
简单介绍
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪 说明:
LCR测试仪 3532-50元器件测量,LCR测试仪 3532-50搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪
测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位度自由调整,可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。
操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来
基本参数
测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位度自由调整
可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来
LCR测试仪 3532-50基本参数
检测:电压,AC
θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mF
L:16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q:0.01~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S