台式PIDPotential Induced Degradation

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型号
台式PIDPotential Induced Degradation

品牌
布鲁克

所在地
暂无

更新时间
2023-06-02 23:19:03

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次

    台式PID（Potential Induced Degradation）潜在诱导退化测试仪，用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。


    标准：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016


    可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度



    台式PID（Potential Induced Degradation）



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