博曼B系列产品概述：
- B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式，配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。样品仓采用开槽配置，但没有可编程的XY样品台。 - B系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测器。
博曼B系列可满足以下类型用户的需求：
- 样品测试量相对较小 - 样品仅需测量一个位置 - 大型线路板镀层的抽检 - 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升 - 符合IPC-4552A
博曼B系列产品参数：
类别
参数
元素测量范围：
13号铝元素到92号铀元素
X射线管：
50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管
探测器：
190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
分析层数及元素数：
5层，每层可分析10种元素，成分分析*多可分析25种元素
滤波器：
4位置一次过滤器/单规格准直器
焦距：
激光固定焦距（可选多焦点）
数字脉冲器：
4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正
计算机：
英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 *版, 64位
相机：
1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
电源：
150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz
重量：
34kg
可编程XY平台： 延伸可编程XY平台：
不可用 不可用
样品仓尺寸：
高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：340mm（13"）
外形尺寸：
高度：450mm（18"），宽度：450mm（18"），深度：600mm（24"）
关于美国博曼：
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有知识产权的镀层检测技术和*的软件系统，可*高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。
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博曼B系列产品概述：
- B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式，配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。样品仓采用开槽配置，但没有可编程的XY样品台。
- B系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测器。
博曼B系列可满足以下类型用户的需求：
- 样品测试量相对较小
- 样品仅需测量一个位置
- 大型线路板镀层的抽检
- 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升
- 符合IPC-4552A
博曼B系列产品参数：
类别
参数
元素测量范围：
13号铝元素到92号铀元素
X射线管：
50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管
探测器：
190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
分析层数及元素数：
5层，每层可分析10种元素，成分分析*多可分析25种元素
滤波器：
4位置一次过滤器/单规格准直器
焦距：
激光固定焦距（可选多焦点）
数字脉冲器：
4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正
计算机：
英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 *版, 64位
相机：
1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
电源：
150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz
重量：
34kg
可编程XY平台：
延伸可编程XY平台：
不可用
不可用
样品仓尺寸：
高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：340mm（13"）
外形尺寸：
高度：450mm（18"），宽度：450mm（18"），深度：600mm（24"）
关于美国博曼：
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有知识产权的镀层检测技术和*的软件系统，可*高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。