金属材料领域*的全谱直读光谱仪
检测基体:铁基、铜基、铝基、镍基、镁基、钛基、锌基、铅基、锡基、银基。
全新立式全谱光谱采用标准的设计和制造工艺技术,采用全数字技术,替代庞大的光电倍增管(PMT)模拟技术,采用真空光学室设计及全数字激发光源、CCD检测器,高速数据读出系统,使仪器具有较高的性能、较低的检出线、长期的稳定性和重复性。适用于金属制造业、加工业及金属冶炼业用于质量监控、材料牌号识别、材料研究和开发的主要设备。
主要技术参数:
光学系统:帕型)-龙格罗兰圆全谱真空型光学系统;
波长范围:120nm~589nm
焦距:400mm
探测器:高性能CCD阵列
光源类型:数字光源,高能预燃技术(HEPS)
放电频率:100-1000Hz
放电电流:400A
工作电源:220VAC 50/60Hz
仪器尺寸:650*860*1200
仪器重量:约235kg(不含真空系统)
检测时间:依据样品类型而定,一般25S左右
电极:钨材喷射电
光学恒温:34℃± 0.3℃
氩气要求:99.999%
氩气进口压力:0.5MPa
氩气流量:激发流量约3.5L/min
工作温度:10℃~35℃
工作湿度:20%~85%
分析间隙:真空软件自动控制、监测
产品特色:
优化设计的真空光学系统
1、整体光学室装置、帕邢-龙格结构设计,所有谱线集成在罗栏园上;
2、直射式光学技术及透镜MgF2材料,保证C、S、P、N紫外波长的能量。
全数字激发光源
1、全数字、高能预燃技术(HEPS),不同样品设置不同的激发参数,提高样品的测量精;
2、和相似性,提高样品激发速度,提高火花稳定性,使样品有更好的重现性。
功能性设计的激发装置
1、集成气路、喷射电极技术,开放式铜火花台,不仅保证样品测量精度还能购测量各种复杂形状的样品(含线材);
2、单板式透镜装置设计,一般人员都能方便对激发台进行进行维护和透镜的清洗。
高集成、高速度读出系统
1、高性能CCD固态检测技术,波段内谱线全谱接收;
2、FPGA及高速数据通讯技术,数据读入功能强大,检测数据整体读入时间短。
直观、易操作的分析软件
1、基于WINDOWS系统的多国语言的CCD全谱分析软件全方位的管理和控制整个测量过程,为用户提供强大的数据处理能力和测试报告输出能力;
2、仪器在软件中配备多条工厂校正曲线及更多材质分析及*的解决方案;
3、仪器实现全谱分析,智能扣干扰,扣暗电流、背景和噪声的算法,极大的提高了仪器的分析能力。
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金属材料领域*的全谱直读光谱仪
检测基体:铁基、铜基、铝基、镍基、镁基、钛基、锌基、铅基、锡基、银基。
全新立式全谱光谱采用标准的设计和制造工艺技术,采用全数字技术,替代庞大的光电倍增管(PMT)模拟技术,采用真空光学室设计及全数字激发光源、CCD检测器,高速数据读出系统,使仪器具有较高的性能、较低的检出线、长期的稳定性和重复性。适用于金属制造业、加工业及金属冶炼业用于质量监控、材料牌号识别、材料研究和开发的主要设备。
主要技术参数:
光学系统:帕型)-龙格罗兰圆全谱真空型光学系统;
波长范围:120nm~589nm
焦距:400mm
探测器:高性能CCD阵列
光源类型:数字光源,高能预燃技术(HEPS)
放电频率:100-1000Hz
放电电流:400A
工作电源:220VAC 50/60Hz
仪器尺寸:650*860*1200
仪器重量:约235kg(不含真空系统)
检测时间:依据样品类型而定,一般25S左右
电极:钨材喷射电
光学恒温:34℃± 0.3℃
氩气要求:99.999%
氩气进口压力:0.5MPa
氩气流量:激发流量约3.5L/min
工作温度:10℃~35℃
工作湿度:20%~85%
分析间隙:真空软件自动控制、监测
产品特色:
优化设计的真空光学系统
1、整体光学室装置、帕邢-龙格结构设计,所有谱线集成在罗栏园上;
2、直射式光学技术及透镜MgF2材料,保证C、S、P、N紫外波长的能量。
全数字激发光源
1、全数字、高能预燃技术(HEPS),不同样品设置不同的激发参数,提高样品的测量精;
2、和相似性,提高样品激发速度,提高火花稳定性,使样品有更好的重现性。
功能性设计的激发装置
1、集成气路、喷射电极技术,开放式铜火花台,不仅保证样品测量精度还能购测量各种复杂形状的样品(含线材);
2、单板式透镜装置设计,一般人员都能方便对激发台进行进行维护和透镜的清洗。
高集成、高速度读出系统
1、高性能CCD固态检测技术,波段内谱线全谱接收;
2、FPGA及高速数据通讯技术,数据读入功能强大,检测数据整体读入时间短。
直观、易操作的分析软件
1、基于WINDOWS系统的多国语言的CCD全谱分析软件全方位的管理和控制整个测量过程,为用户提供强大的数据处理能力和测试报告输出能力;
2、仪器在软件中配备多条工厂校正曲线及更多材质分析及*的解决方案;
3、仪器实现全谱分析,智能扣干扰,扣暗电流、背景和噪声的算法,极大的提高了仪器的分析能力。