> SD-5000特点
5nm波长间距之分光结构;
内建256个影像感测组件作光学系统之配置;
提供二种测定模式做搭配
-SCI(含正反射-适合测试金属色,Ex metallic color)
-SCE(不含正反射-适合一般之物体色)
可记忆50笔数据;
依据规范:JIS Z8722,ISO 7724,DIN 5033,ASTM D2244,ASTM E308,ASTM E313
>SD-5000规格
光学条件:反射色测定-(d/8°或D/8°可切换) 透过色测定-(D/0°法)
Double – beam method
波长范围:380-780nm(Diffraction Grating)
测试面积:Ø6mm,Ø10mm,Ø28mm(表面反射)或Ø25mm(透过测定)
标准光源:D65,C,A,F6,F8,F10(6种光源,12种模拟方式)
资料显示:各种表色系统,HVC,APHA,Gardner,分色反射率(透过率),分光分布图,偏光判定图等
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5nm波长间距之分光结构;
内建256个影像感测组件作光学系统之配置;
提供二种测定模式做搭配
-SCI(含正反射-适合测试金属色,Ex metallic color)
-SCE(不含正反射-适合一般之物体色)
可记忆50笔数据;
依据规范:JIS Z8722,ISO 7724,DIN 5033,ASTM D2244,ASTM E308,ASTM E313
>SD-5000规格
光学条件:反射色测定-(d/8°或D/8°可切换) 透过色测定-(D/0°法)
Double – beam method
波长范围:380-780nm(Diffraction Grating)
测试面积:Ø6mm,Ø10mm,Ø28mm(表面反射)或Ø25mm(透过测定)
标准光源:D65,C,A,F6,F8,F10(6种光源,12种模拟方式)
资料显示:各种表色系统,HVC,APHA,Gardner,分色反射率(透过率),分光分布图,偏光判定图等