微电阻计3540用于线圈或产线的电阻至高电阻测量 测量源:DC 短响应时间:100ms 采样率: 16 次/秒 高分辨率:10μΩ 提供可选手动测试或系统应用测试 4端子方法测量mΩ电阻(快速100ms响应) 比较器功能多存储7组表格 温度补偿功能,测量温度并根据铜来计算20℃以下的对应值。 日置HIOKI 3540微电阻计基本参数
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微电阻计3540用于线圈或产线的电阻至高电阻测量
测量源:DC
短响应时间:100ms
采样率: 16 次/秒
高分辨率:10μΩ
提供可选手动测试或系统应用测试
4端子方法测量mΩ电阻(快速100ms响应)
比较器功能多存储7组表格
温度补偿功能,测量温度并根据铜来计算20℃以下的对应值。
日置HIOKI 3540微电阻计基本参数
± 0.1%rdg. ± 6dgt.(30mΩ,3Ω量程)
± 0.1%rdg. ± 4dgt.(300mΩ,30Ω~30kΩ量程)
(-01-02和-03版本)
输出:3档(高,中,低),开路集电极,LED显示,蜂鸣器警报