Langer 静电场耦合 P1202 / P1301 L-ESD set 现货 促销
这电快速瞬变脉冲群场耦合探头组中包含的场源产生电场的和磁场的电快速瞬变脉冲群场。这些场可以确定地、可复现地加载在集成电路上,从而确定集成电路对电快速瞬变脉冲群场的抗干扰性。 其背景是扁平元件组和电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰性。这些设备要经受电快速瞬变脉冲群测试(IEC 61000-4-4)。
测试时与扁平元件组耦合的电快速瞬变脉冲群干扰会产生电场和磁场。产生的场作用于扁平元件组的表面,并且能穿过集成电路的外壳。若这些场穿过集成电路,则在集成电路中产生干扰过程。 因此除了在集成电路引脚上的与电路耦合的电快速瞬变脉冲群干扰之外,磁场和电场对集成电路的影响也是一个很主要的干扰途径。
其他推荐产品
首页| 关于我们| 联系我们| 友情链接| 广告服务| 会员服务| 付款方式| 意见反馈| 法律声明| 服务条款
Langer 静电场耦合 P1202 / P1301 L-ESD set 现货 促销
这电快速瞬变脉冲群场耦合探头组中包含的场源产生电场的和磁场的电快速瞬变脉冲群场。这些场可以确定地、可复现地加载在集成电路上,从而确定集成电路对电快速瞬变脉冲群场的抗干扰性。 其背景是扁平元件组和电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰性。这些设备要经受电快速瞬变脉冲群测试(IEC 61000-4-4)。
Langer 静电场耦合 P1202 / P1301 L-ESD set 现货 促销
测试时与扁平元件组耦合的电快速瞬变脉冲群干扰会产生电场和磁场。产生的场作用于扁平元件组的表面,并且能穿过集成电路的外壳。若这些场穿过集成电路,则在集成电路中产生干扰过程。 因此除了在集成电路引脚上的与电路耦合的电快速瞬变脉冲群干扰之外,磁场和电场对集成电路的影响也是一个很主要的干扰途径。