晶体管图示仪

价格
¥250,000.00

型号
BND-5000

品牌

所在地
广东省 深圳市

更新时间
2020-07-25 07:25:03

浏览次数

    BND-5000测试仪指标

     

    技术指标

    主极参数

    控制极参数

    指标

    标配

     

    指标

    标配

     

    主极电压:

    1mV-2000V

     

    ①控制极电压:

    100mV-20V

     

    ②电压分辨率:

    1mV

     

    ②电压分辨率:

    1mV

     

    主极电流

    0.1nA-100A

     

    ③控制极电流:

    100nA-10A

     

    ④电流分辨率:

    0.1nA

     

     

     

     

    ⑤测试精度

    0.2%+2LSB

     

     

     

     

    ⑥测试速度

    0.5mS/参数

     

     

     

     

     

     

     

    1.3  BND-5000测试系统是一套高速多用途半导体分立器件智能测试系统,它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,可真实准确测试下列各种大、中、小功率的半导体分立器件。

      

     

    测试范围 / 测试参数

     

    序号

    测试器件

    测试参数

     

    01

    绝缘栅双极大功率晶体管

    IGBT

    ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;

    VGEON;VF;GFS

     

    02

    MOS场效应管 

    MOS-FET

    IDSS;IDSV;IGSSF;  IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;

    VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS

     

    03

    J型场效应管

    J-FET

    IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;

    IDSS;GFS;VGSOFF

     

    04

    二极管

    DIODE

    IR;BVR ;VF

     

    05

    晶体管

    (NPN型/PNP型)

    ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;

    BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF

     

    06

    双向可控硅

    TRIAC

    VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-

     

    07

    可控硅

    SCR

    IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;

    IGT;VGT;IL;IH

     

    08

    硅触发可控硅

    STS

    IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;

     VPK-;VGSW+;VGSW-

     

    09

    达林顿阵列

    DARLINTON

    ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;

    BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;

    VCESAT; VBESAT;VBEON

     

    10

    光电耦合

    OPTO-COUPLER

    ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;

    CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)

     

    11

    继电器

    RELAY

    RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME

     

    12

    稳压、齐纳二极管

    ZENER

    IR;BVZ;VF;ZZ

     

    13

    三端稳压器

    REGULATOR

    Vout;Iin;

     

    14

    光电开关

    OPTO-SWITCH

    ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF

     

    15

    光电逻辑

    OPTO-LOGIC

    IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF

     

    16

    金属氧化物压变电阻

    MOV

    ID+ ID-;VN+;  VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;

     

    17

    固态过压保护器

    SSOVP

    ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、

    IH-;;IBO+ IBO-;VBO+  VBO-;VZ+  VZ-

     

    18

    压变电阻

    VARISTOR

    ID+;  ID-;VC+   ;VC-

     

    19

    双向触发二极管

    DIAC

    VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

     


    1.4系统曲线测试列举
    ID vs. VDS at range of VGS             

    ID vs. VGS at fixed VDS
    IS vs. VSD                             

    RDS vs. VGS at fixed ID
    RDS vs. ID at several VGS             

    IDSS vs. VDS
    HFE vs. IC                            

    BVCE(O,S,R,V) vs. IC
    BVEBO vs. IE                          

    BVCBO vs. IC
    VCE(SAT) vs. IC             

    VBE(SAT) vs. IC
    VBE(ON) vs. IC (use VBE test)      

    VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF

    1.5系统软件支持

    器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成,具有全屏显示和增强型编辑帮助。

        一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下,输入所选器件系列名称和测试类型,并选择所需测试的参数,而不必具有计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间,非常快捷方便。


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