良益LCL—13台式薄膜测厚仪产品介绍
LCL-13型台式薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理,本仪器可提供非接触测量薄膜厚度,折射率,吸收系数等;采用*软件版本,具有纳米级测量和方便使用等优点;测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究,光学镀膜,和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。
学会薄膜和涂层的厚度测量及折射率和吸收系数的测定
其他推荐产品
首页| 关于我们| 联系我们| 友情链接| 广告服务| 会员服务| 付款方式| 意见反馈| 法律声明| 服务条款
良益LCL—13台式薄膜测厚仪产品介绍
LCL-13型台式薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理,本仪器可提供非接触测量薄膜厚度,折射率,吸收系数等;采用*软件版本,具有纳米级测量和方便使用等优点;测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究,光学镀膜,和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。
良益LCL—13薄膜测厚仪实验内容学会薄膜和涂层的厚度测量及折射率和吸收系数的测定
良益LCL—13台式薄膜测厚仪配置参数