便携式全反射X射线荧光元素分析仪
OURSTEX200TX
特点:搭载SDD检测输出装置、本体重量8kg、可以分析ppb精度、不需要液氮和冷却水
用途:检测井水、河水、污水;分析土壤、玩具的溶出水;食品、医药学、鉴定领域的现场分析;毛发、大气悬浮颗粒的成分分析。
测定原理:全反射X射线荧光分析法,针对基座表面全反射临界角以下角度照射,不侵入试验基板之内,不会造成基板内部X射线散乱发射的情况,因此可以进行极微量级别的分析。
规格
测定原理
全反射X射线荧光分析法
测定对象
液体、饮用水、土壤渗出水、污水等
测定元素
13AI~92U ppb~量级 响应时间≤10分钟
发射源
X射线
样本基座
石英载片
装置重量
8kg
测试环境
大气
射线输出
0-48kV,0.2mA max / 48-50kV,0.175mA max
检测器
电子冷却式SDD
数据处理
数字处理方式DSP(Digital Signal Processor)
使用条件
温度
5~27°C
湿度
20~75%
电源
AC 100 5A或AC 220 3A
设置
设置D型接地线
其他附属
喷墨式彩色打印机,鼠标等。
便携式(车载式)全反射X射线荧光元素(包括重金属)分析仪的技术指标
1.用途
适用于地表水、饮用水源、污水以及土壤等污染事故区域及周边大气悬浮颗粒中的元素(包括重金属成分)的监测,实现轻松便携,全反射X射线荧光测试物质中未知元素的定性/定量分析及监测结果数据储存等功能。
2.一般要求
电源要求:220VAC+10%,50/60Hz(附加变压器)或100AC,5A:
环境温度要求:5-27°C:
环境湿度要求:20-75%;
3.系统配置
系统主要由全反射x射线荧光测试单元,元素种类和浓度的定性/定量分析软件以及操作单元等部分组成。
·全反射X射线荧光分析仪主机1台
·数据获取
·全反射x射线荧光检测器
·系统自动控制、数据获取及接口组件1套
·笔记本电脑1台
·元素定性/定量分析软件系统
4.技术要求
系统技术指标
·测量成分:元素13AI~92U
·量程范围:ppb~100%量级
·响应时间:≤10分钟
·装置重量:8kg(分析单元本体6kg)
·可用于便携以及车载测量
·多组分测量:可同时测量以上各种元素(浓度高于检测限)
全反射X射线荧光分析仪
·输出范围:0-48kV,0.2mA max/48—50kV.0.1 75mA max
·试样平台:石英光学平板 ·计数回路:数字处理方式(DigitaI Signal Processor)
·型 式:电子冷却式SDD ·试样室周围气体:大气
软件及光谱数据库
·软 件:光谱测量、未知元素的定性/定量分析、结果显示、数据储存
·数据库:可同于定性及定量分析的各种元素(元素13AI~-92U)
系统操作控制系统
·配置系统控制器(内置的CPU芯片)和操作软件(基于Windows操作系统),图形化用户界面;
·能够进行整个系统测试、定量分析及监测结果数据等的参数设定和控制功能;
·提供计算机操作控制软件(光盘)。
其他推荐产品
首页| 关于我们| 联系我们| 友情链接| 广告服务| 会员服务| 付款方式| 意见反馈| 法律声明| 服务条款
便携式全反射X射线荧光元素分析仪
OURSTEX200TX
特点:搭载SDD检测输出装置、本体重量8kg、可以分析ppb精度、不需要液氮和冷却水
用途:检测井水、河水、污水;分析土壤、玩具的溶出水;食品、医药学、鉴定领域的现场分析;毛发、大气悬浮颗粒的成分分析。
测定原理:全反射X射线荧光分析法,针对基座表面全反射临界角以下角度照射,不侵入试验基板之内,不会造成基板内部X射线散乱发射的情况,因此可以进行极微量级别的分析。
规格
测定原理
全反射X射线荧光分析法
测定对象
液体、饮用水、土壤渗出水、污水等
测定元素
13AI~92U ppb~量级 响应时间≤10分钟
发射源
X射线
样本基座
石英载片
装置重量
8kg
测试环境
大气
射线输出
0-48kV,0.2mA max / 48-50kV,0.175mA max
检测器
电子冷却式SDD
数据处理
数字处理方式DSP(Digital Signal Processor)
使用条件
温度
5~27°C
湿度
20~75%
电源
AC 100 5A或AC 220 3A
设置
设置D型接地线
其他附属
喷墨式彩色打印机,鼠标等。
便携式(车载式)全反射X射线荧光元素(包括重金属)分析仪的技术指标
1.用途
适用于地表水、饮用水源、污水以及土壤等污染事故区域及周边大气悬浮颗粒中的元素(包括重金属成分)的监测,实现轻松便携,全反射X射线荧光测试物质中未知元素的定性/定量分析及监测结果数据储存等功能。
2.一般要求
电源要求:220VAC+10%,50/60Hz(附加变压器)或100AC,5A:
环境温度要求:5-27°C:
环境湿度要求:20-75%;
3.系统配置
系统主要由全反射x射线荧光测试单元,元素种类和浓度的定性/定量分析软件以及操作单元等部分组成。
·全反射X射线荧光分析仪主机1台
·数据获取
·全反射x射线荧光检测器
·系统自动控制、数据获取及接口组件1套
·笔记本电脑1台
·元素定性/定量分析软件系统
4.技术要求
系统技术指标
·测量成分:元素13AI~92U
·量程范围:ppb~100%量级
·响应时间:≤10分钟
·装置重量:8kg(分析单元本体6kg)
·可用于便携以及车载测量
·多组分测量:可同时测量以上各种元素(浓度高于检测限)
全反射X射线荧光分析仪
·输出范围:0-48kV,0.2mA max/48—50kV.0.1 75mA max
·试样平台:石英光学平板 ·计数回路:数字处理方式(DigitaI Signal Processor)
检测器
·型 式:电子冷却式SDD ·试样室周围气体:大气
软件及光谱数据库
·软 件:光谱测量、未知元素的定性/定量分析、结果显示、数据储存
·数据库:可同于定性及定量分析的各种元素(元素13AI~-92U)
系统操作控制系统
·配置系统控制器(内置的CPU芯片)和操作软件(基于Windows操作系统),图形化用户界面;
·能够进行整个系统测试、定量分析及监测结果数据等的参数设定和控制功能;
·提供计算机操作控制软件(光盘)。