冲击试样缺口投影仪 产品简介：

CST-50型冲击试样缺口投影仪/冲击试验夏比投影仪，是根据广大用户的实际需求与GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种检察夏比V 型和U 型冲击试样缺口加工质量的光学仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投影到投影屏上，与投影屏上冲击试样V 或U型缺口标准样样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是 操作简便，检查对比真观，效率高。
该仪器还可用于机械零件的外形轮廓，防治物纤维，生物切片分析，工量刀具检验，仪表元件和半导体器件的投影检测，操作简便，检查对比直观、效率高。