薄膜/纸张厚度表

价格
电议

型号
薄膜/纸张厚度表

品牌
XF802-P30

所在地
暂无

更新时间
2024-08-05 12:31:45

浏览次数

      XF802-P30厚度表用来测量薄膜,纸张,塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用,测量表面处理后的表面粗糙度。
    执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5

     

    技术指标:

    仪器型号

       XF802-P30

    测量范围

       0-1000 μm

    显  示

       1 μm

    仪器尺寸

       125*95*25 mm

    重       量

       270 g

    装  箱  单

       SP300主机, 说明书和合格证


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