Nikon L200拥有CFI60光学系统用于集成电路检查显微镜，由此获得全所未有的高对比图像。使得物镜不仅工作距离更长，而且" target="_blank" href="https://www.testmart.cn/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=8409921&ss_c=ssc.citiao.">数值孔径更高：符合SEMI S293A，S8-95S设计；利用" target="_blank" href="https://www.testmart.cn/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=65470512&ss_c=ssc.citiao.">计算机辅助工程系统，对机身进行防震设计；具有全面的防污染措施。

适用于科学研究分析，材料分析，微电子观察，TFT 液晶检查，4寸 5寸 6寸 8寸半导体晶圆检查