TSI CHEMREVEAL LIBS台式激光诱导击穿光谱元素分析仪

TSI ChemReveal 是用*的激光诱导击穿光谱 (库) 建造的, 是快速分析元素的理想工具，相比其他很多方法更有助于预先筛选，它可为固体材料中几乎所有元素提供直接化学分析。

产品详情

TSI ChemReveal台式LIBS分析仪（激光诱导击穿光谱仪）可直接分析固体物质中的所有元素，它是一款对未知化学成分的物质进行快速元素分析的理想仪器，也是对样品进行初筛分析的*解决方案，而且它比传统的实验室仪器操作简单。TSI ChemReveal分析仪可同时分析材料中的有机元素（C,H,O,N）、轻元素（比如Li,B,Be,Na,Mg）和重金属元素。它具有高分辨率的成像能力，以及电脑控制的全自动样品台，可做材料的面扫描分析和厚度剖析--适用于薄膜涂层的化学成分分析。TSI ChemReveal台式LIBS分析仪主要应用在实验室中，内置基础和高级的用户界面，是固态样品进行快速元素成分分析的理想解决方案。

TSI ChemReveal™ LIBS 台式分析仪内置*的 TSI ChemLytics™ 软件，能够支持测试方法的开发，建立定标曲线或数据库，可对样品进行定性定量的快速分析，对于*级客户，我们有ChemLytics Plus™化学计量学软件，建立多变量模型，用于复杂成分材料的定量分析。

拥有TSI公司强大的全球服务和技术支持体系为保障，以及过 50 年生产制造高品质仪器的良好声誉， TSI ChemReveal ™ LIBS 台式分析仪是您对固态物质进行元素分析*理想的选择。

应用

金属成分分析

金属牌号识别

药物

环境

地质

玻璃/陶瓷

纳米材料

法医鉴定

更多应用 ...
 

特点与优势

宽泛的元素检测范围-从Z<12的轻元素（如 C,H,O,N,Li,B,Be）到重金属元素 

分析速度快-几秒钟到几分钟 

几乎不需要样品处理过程-直接分析固体样品、颗粒或粉末

比其它的元素分析方法需要更少的样品，几乎没有样品消耗 

微米级别的厚度剖析和面分布图 

微米到宏观分析-定向而灵活的点分析 

定性的样品分类或者定量的元素含量分析 

可选的不同型号的激光器和探头，以满足您不同的应用需求 

 大多数元素的检出限为可十几到几十个ppm量级 

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