WL27-2S132西克位移传感器的技术优势
通过RS 422直连至PLC:测量头可通过 RS422 接口直连至PLC;方便系统集成,可灵活选择是否采用控制器。
通过USB口连接电脑,可通过SOPAS直接设置参数, 在电脑里存储测量数据(EXCEL);
AOD5控制盒可直观显示测量结果和波型,并对测量值进行加减法运算;
玻璃厚度测量仅采用一个测量头:透明物体的厚度测量现已十分简便,由于采用了新的设计理念,玻璃厚度测量仅需一个测量头;
位移传感器激光测量头可以作为独立的部分为测量任务提供原始检测数据,
也可以配合控制器提供经过多重处理或计算的结果,大大提升系统集成的灵活性。
一个控制盒可以带三个不同型号测量头(业内多)
适应性强:不受表面亮暗程度,粗糙或光洁,透明与否的影响;即便材料差异极大,亦能保证优的可靠性。
设置抗干扰模式, 可以保证两个测量光斑非常接近或背靠背测量时相互不影响
可调节光斑强度和大小
优精度:测量精度高达1.6um,重复精度高达到0.06um,分辨率高达到0.02um
应用于不同场合的宽或窄测量光束 25 x 35 μm 至 1 x 3,7 mm。
精密元件或小尺寸工件采用窄光束型号进行测量;粗糙、沟槽表面则采用宽光束进行测量,用以降低表面结构对测量结果的影响。
适用于不同安装距离的多种量程 25 ± 1 mm 至 500 ± 200 mm。
其他推荐产品
首页| 关于我们| 联系我们| 友情链接| 广告服务| 会员服务| 付款方式| 意见反馈| 法律声明| 服务条款
WL27-2S132西克位移传感器的技术优势
通过RS 422直连至PLC:测量头可通过 RS422 接口直连至PLC;方便系统集成,可灵活选择是否采用控制器。
通过USB口连接电脑,可通过SOPAS直接设置参数, 在电脑里存储测量数据(EXCEL);
AOD5控制盒可直观显示测量结果和波型,并对测量值进行加减法运算;
玻璃厚度测量仅采用一个测量头:透明物体的厚度测量现已十分简便,由于采用了新的设计理念,玻璃厚度测量仅需一个测量头;
位移传感器激光测量头可以作为独立的部分为测量任务提供原始检测数据,
也可以配合控制器提供经过多重处理或计算的结果,大大提升系统集成的灵活性。
一个控制盒可以带三个不同型号测量头(业内多)
适应性强:不受表面亮暗程度,粗糙或光洁,透明与否的影响;即便材料差异极大,亦能保证优的可靠性。
设置抗干扰模式, 可以保证两个测量光斑非常接近或背靠背测量时相互不影响
可调节光斑强度和大小
优精度:测量精度高达1.6um,重复精度高达到0.06um,分辨率高达到0.02um
应用于不同场合的宽或窄测量光束 25 x 35 μm 至 1 x 3,7 mm。
精密元件或小尺寸工件采用窄光束型号进行测量;粗糙、沟槽表面则采用宽光束进行测量,用以降低表面结构对测量结果的影响。
适用于不同安装距离的多种量程 25 ± 1 mm 至 500 ± 200 mm。
WL27-2S132西克位移传感器的技术优势