成都冲击箱冲击试验机温度冲击箱

价格
电议

型号
LTS-80-3P

品牌
广东宏展

所在地
重庆市 重庆市

更新时间
2019-02-08 08:55:01

浏览次数

    成都冲击箱/冲击试验机/温度冲击箱特点
    规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
    设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
    高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
    工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
    高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到小;
    表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
    高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
    多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
    大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
    环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;
     
    *可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能
     
    *成都冲击箱/冲击试验机/温度冲击箱温度控制
    可实现温度定值控制和程序控制;
    全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
    每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
    USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
    采用国际流行的制冷控制模式,可以0%~自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
    制冷及电控关键配件均采用国际产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;
     
    *成都冲击箱/冲击试验机/温度冲击箱满足以下标准
    GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
    GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
    GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
    GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 则
    GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
    GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
    GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
    GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
     

    型    号

     

    TSL-80-A

    TSU-80-W

    TSS-80-W

    TSL-150-A

    TSU-150-W

    TSS-150-W

    TSL-225-W

    TSU-225-W

    TSS-225-W

    TSL-408-W

    TSU-408-W

    TSS-408-W

    标称内容积(升)

    80

    150

    200

    300

    试验方式

    气动风门切换2温室或3温室方式

    性能

    高温室

    预热温度范围

    +60~+200℃

    升温速率※1

    +60→+200℃≤20分钟

    低温室

    预冷温度范围

    -78-0℃

    降温速率※1

    +20→-75℃≤80分钟

    试验室

    温度偏差

    ±2℃

    温度范围

    TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;

    TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

    TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

    温度恢复时间※2

    5分钟以内

    试样搁架承载能力

    30kg

    试样重量

    7.5kg

    7.5kg

    10kg

    10kg

    内部尺寸(mm)

    W

    500

    600

    750

    850

    H

    400

    500

    500

    600

    D

    400

    500

    600

    800

    外形尺寸(mm)※4

    W

    1460

    1560

    1710

    1880

    H

    1840

    1940

    1940

    2040

    D

    1500

    1600

    1700

    1900

    ※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

    ※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)

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