P系列代表的是采用Q8-902中英文彩色触摸屏式人机界面(画面对谈式)电脑控制的可程式恒温恒湿试验箱.USB曲线记录数据储存装置.
低湿试验箱,除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验)..等,去检测产品本身的适应能力与特性是否改变,以及针对产品在(低温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等)环境下是否会发生龟裂、破损,另外在低湿环境中的空气静电量是一般环境的30倍以上,据统计,半导体破坏率:59%是由静电所引起的。 ※ 需符合国际性规范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以达到国际间量测程序一致性(含测试步骤、条件、方法)避免认知不同,并缩小量测不确定的因素范围发生。
基本画面群
特有功能
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P系列代表的是采用Q8-902中英文彩色触摸屏式人机界面(画面对谈式)电脑控制的可程式恒温恒湿试验箱.USB曲线记录数据储存装置.
低湿试验箱,除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验)..等,去检测产品本身的适应能力与特性是否改变,以及针对产品在(低温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等)环境下是否会发生龟裂、破损,另外在低湿环境中的空气静电量是一般环境的30倍以上,据统计,半导体破坏率:59%是由静电所引起的。
※ 需符合国际性规范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以达到国际间量测程序一致性(含测试步骤、条件、方法)避免认知不同,并缩小量测不确定的因素范围发生。
可设定程式120组,1200段,循环次数可达999次,每段时间大设定99小时59分;
具有RS232通信接口,可通过PC随意控制和监视,还可选配RS485接口,USB曲线记录和数据储存装置使用便捷;
具有9组PID参数调节,以达到稳定、之控制;
具有程式修正、清除、预约、启动、停电、记忆、按键锁定等功能;
具有多种报警功能,故障发生同时,可通过荧幕故障显示,消除故障;
送风循环设计,温湿度分布均匀性佳;
具有自动防霜装置的真空双重玻璃,可清晰观察试验箱内的试品;
前置式自动进水装置,方便增加加湿水。
宏展Q8-902温湿度控制器系统
基本画面群
特有功能
1. 曲線,历史数据可由USB按日期选择拷贝。
2. 按60秒采样,可记录保存120天数据及曲线。
2. 标配R-232C电脑接口。
3. 因特网联机界面(需订货时注明)。
運轉预计结束時間表示,了解大概结束时间。
通電時間積算,运行時間積算。
程式结束规划(程式连接,转到定值,停机等)。
标准GB 10586-89湿热试验箱技术条件
标准GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
标准GB/T10589-1989低温试验箱技术条件
满足标准
国际电工委员会标准IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热
国际电工委员会标准IEC68-2-01_试验方法A_冷
国际电工委员会标准IEC68-2-02_试验方法B_干热
美国标准MIL-STD-810F-507.4 湿度
美国标准MIL-STD-810F-501.4 高温
美国标准MIL-STD-810F-502.4 低温
美国标准MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验
美国标准MIL-STD810D方法502.2
美国标准MIL-STD810方法507.2程序3
日本工业标准JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态
日本工业标准JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温
美国半导体行业标准JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验
美国半导体行业标准JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准JESD22-A119-2004 低温储存试验
标准GB/T 2423.1-2001 低温
标准GB/T 2423.2-2001 高温
标准GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法
标准GB2423.34-86 温湿度组合循环试验
标准GB/T2423.4-93方法
环境试验设备方法GJB150.9-8 湿热试验
W x D x H cm
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