SMC压力传感器日本SMC传感器
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日本SMC传感器 SMC压力传感器日本SMC传感器 SMC压力传感器是用来测量探头与被测物体之间相对静态和动态位移的一种非接触式传感器。它具有灵敏度高、测量范围宽、抗干扰能力强、不受油污等介质的影响,实现非接触测量等优点,且能在油、气、水等恶劣环境下工作,因此在电力、石化、冶金等各种环境下运行的旋转机械在线状态监测与故障诊断中得到广泛应用。
SMC压力传感器进行位移测量的原理是基于传感器平面与被测金属表面之间间隙的变化会引起涡流密度的变化,从而导致传感器线圈的电感、阻抗或品质因数的变化。变间隙型电涡流传感器结构很简单,主要是由一个固定在框架上的扁平圆线圈组成。线圈是用多股漆包线或银线绕制而成,一般放在传感器的端部,线圈可绕在框架的槽内,也可以用粘结形(贴应变片用的即可)粘结在端部,结构型式见下图。变间隙型传感器常采用一个线圈的单绕组式进行测量,也可以采用双线组式传感器。在用双线组式传感器时,信号发生器的信号供给主动绕组,测量线圈可以接到谐振回路中。并与主动绕组成感应耦合,由于使双绕组传感器的输入阻抗与输出线的参数相匹配,所以它可以放在离测量电路达100m处,而灵敏度并不下降。此外,由于在线路见选择了耦合系数,因此传感器可得到等于测量线圈半径0.8倍的线性段。测量线圈采用差动线路,可提高灵敏度及稳定性,并改善线性度。 SMC压力传感器日本SMC传感器SMC产品型号如下: CDQP2B4030DCMC4 CDQP2B40-30DCM-XC4 CDQP2B50-10D CDQP2B50-10D CDQP2B50-100D CDQP2B50-100D CDQP2B50-20DC CDQP2B50-20DC CDQP2B50-40DM CDQP2B50-40DM CDQP2B63-10DC CDQP2B63-10DC CDQP2B63-100D CDQP2B63-100D CDQP2B63-100DM CDQP2B63-100DM CDQP2B63-30DC CDQP2B63-30DC CDQP2B63-50DM CDQP2B63-50DM CDQP2B63-75D CDQP2B63-75D CDQP2B63-90DM CDQP2B63-90DM CDQP2B80-25D CDQP2B80-25D CDQP2B80-50D CDQP2B80-50D CDQS-H-Z-5DC CDQS-H-Z-5DC CDQP2B20-30D CDQP2B20-30D CDQP2B20-40DM CDQP2B20-40DM CDQP2B20-45D CDQP2B20-45D CDQP2B20-50DM CDQP2B20-50DM CDQP2B25-10D CDQP2B25-10D CDQP2B25-30D CDQP2B25-30D CDQP2B25-45DM CDQP2B25-45DM CDQP2B25-5D CDQP2B25-5D CDQP2B32-20D CDQP2B32-20D CDQP2B32-20DM CDQP2B32-20DM CDQP2B32-30DM CDQP2B32-30DM CDQP2B40-10D CDQP2B40-10D CDQP2B40-20D CDQP2B40-20D CDQP2B40-20DC CDQP2B40-20DC CDQP2B40-20DM CDQP2B40-20DM CDQP2B40-20DXC8 CDQP2B40-20D-XC8 CDQP2B40-25DC CDQP2B40-25DC CDQP2B40-30DCM CDQP2B40-30DCM CDQP2B40-60DC CDQP2B40-60DC CDQP2B40J004520 CDQP2B40-J0045-20
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SMC压力传感器进行位移测量的原理是基于传感器平面与被测金属表面之间间隙的变化会引起涡流密度的变化,从而导致传感器线圈的电感、阻抗或品质因数的变化。变间隙型电涡流传感器结构很简单,主要是由一个固定在框架上的扁平圆线圈组成。线圈是用多股漆包线或银线绕制而成,一般放在传感器的端部,线圈可绕在框架的槽内,也可以用粘结形(贴应变片用的即可)粘结在端部,结构型式见下图。变间隙型传感器常采用一个线圈的单绕组式进行测量,也可以采用双线组式传感器。在用双线组式传感器时,信号发生器的信号供给主动绕组,测量线圈可以接到谐振回路中。并与主动绕组成感应耦合,由于使双绕组传感器的输入阻抗与输出线的参数相匹配,所以它可以放在离测量电路达100m处,而灵敏度并不下降。此外,由于在线路见选择了耦合系数,因此传感器可得到等于测量线圈半径0.8倍的线性段。测量线圈采用差动线路,可提高灵敏度及稳定性,并改善线性度。
SMC压力传感器日本SMC传感器SMC产品型号如下:
CDQP2B4030DCMC4 CDQP2B40-30DCM-XC4
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