库号：D201045  

导电型号测试仪是严格按照SEMI MF42-1105、GB/T 1550-1997（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的便携式导电型号鉴别仪。



本仪器热探笔内装有加热控温组件，自动加热并使温度保持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经集成运算放大器放大后，用液晶器件直接显示N型或P型。



参数



（1）可判别锗、硅材料的电阻率范围：



锗：非本征锗～10-4Ω·cm 硅：103～10-4Ω·cm



（2）锗、硅的形状不受限制



（3）探针：测量硅单晶的型号仪，选用SEMI MF42-1105标准中的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60°锥体；测量锗单晶的型号仪选用铅做探针材料



（4）电源及功耗：AC220V，50HZ交流电供电，功耗：30W



（5）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深 单位：mm）



（6）重量：3kg

导电型号测试仪是严格按照SEMI MF42-1105、GB/T 1550-1997（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的便携式导电型号鉴别仪。



本仪器热探笔内装有加热控温组件，自动加热并使温度保持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经集成运算放大器放大后，用液晶器件直接显示N型或P型。



参数



（1）可判别锗、硅材料的电阻率范围：



锗：非本征锗～10-4Ω·cm 硅：103～10-4Ω·cm



（2）锗、硅的形状不受限制



（3）探针：测量硅单晶的型号仪，选用SEMI MF42-1105标准中的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60°锥体；测量锗单晶的型号仪选用铅做探针材料



（4）电源及功耗：AC220V，50HZ交流电供电，功耗：30W



（5）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深 单位：mm）



（6）重量：3kg

导电型号测试仪是严格按照SEMI MF42-1105、GB/T 1550-1997（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的便携式导电型号鉴别仪。



本仪器热探笔内装有加热控温组件，自动加热并使温度保持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经集成运算放大器放大后，用液晶器件直接显示N型或P型。



参数



（1）可判别锗、硅材料的电阻率范围：



锗：非本征锗～10-4Ω·cm 硅：103～10-4Ω·cm



（2）锗、硅的形状不受限制



（3）探针：测量硅单晶的型号仪，选用SEMI MF42-1105标准中的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60°锥体；测量锗单晶的型号仪选用铅做探针材料



（4）电源及功耗：AC220V，50HZ交流电供电，功耗：30W



（5）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深 单位：mm）



（6）重量：3kg