库号:D325379
概述:
TH3600L炭黑分散度检测仪,用于检测聚烯烃管材、管件及混配料中颜色和炭黑的分散度;通过对炭黑粒团的尺度、形态、以及散布情况的测量,可以建立起这些参数与力学性能、抗静电性能、吸湿性能等宏观性能指标的内在联系,这将对塑料材料的品质保障、工艺、新品产生积极影响,同时推进企业和行业水平地快速提升。
本仪器符合标准 GB/T 18251-2019,关键部件采用了国产的双目显微镜,高分辨率、高清晰度的CCD相机,配合强大的软件功能支持,能够快捷准确地测得粒子或粒团的尺寸及其分散度,全部过程实现自动化,用户只需要实现加样,软件自动实现颗粒图片的采集,自动保存,自动计算各种参数。
特点:
宽范围的粒径分布,从微米级到毫米级的一个跨度。
采用国产生物显微镜,配以500万像素CMOS图像传感器,图像分辨率提高。
具有移动标尺功能,并可进行任意两点测量。
自动分割粘连颗粒,点击颗粒图像即可显示该颗粒的测量参数。
采用USB2.0数据接口,与微机的兼容性。仪器与计算机分离,可配任意具有USB接口之计算机;台式、笔记本、移动PC均可。
可保存单张颗粒图像。
非常强大的数据报表统计功能。支持各种形式的数据结果报表格式。
软件适应各种操作系统,WIN7,WINXP,VISTA,WIN2000,WIN10等。
自适应各种分辨率屏幕。
软件个性化,提供测量向导等众多功能,方便用户操作;测量结果输出数据丰富,保存在数据库中,能用任意参数,如操作者姓名,样品名,日期,时间等进行调用分析,与其他软件实现数据共享。
仪器造型美观,体积小重量轻。
测量精度高,重复性好,测量时间短。
考虑到测试结果的保密要求,只有授权操作者才能进入相应。
数据库读取数据和处理。
具有校正功能
参数:
测量原理:图像分析法
测量范围:0.5μm~10000μm
测量分析时间:正常条件下小于3分钟(从开始测量到显示分析结果)。
重现性:3%(体积平均直径)
粒径等效原理:等面积圆直径和等效短径
粒度统计参数:体积(重量)和颗粒数
校正方式:通过标准样品,不同放大倍率分别校正,互不干扰
成像分辨率:2048*1024(500万像素数码摄像头)
图像大小:1280×1024像素
光学放大倍数:4X,10X,40X,100X
放大倍率:40X,100X,400X,1000X
自动分析结果内容:分散等级、平均粒径、粒子个数、不同粒径区间所对应的粒子数据(个数、微分%、累积%)、粒径分布柱状图
输出格式:Excel格式、JPG格式、PDF格式、打印机等显示方式
数据报告格式:可分为“图片数据报告”“数据分布报告”两种
通讯接口:USB接口
样品台:10 mm×3 mm
电源:110-120/220-240V 0.42/0.2 50/60Hz(显微镜)
工作条件:
1.室内温度:15℃-35℃
2.相对温度:不大于85%(无冷凝)
3.建议用交流稳压电源1KV,无强磁场干扰。
4.由于在微米级的范围内的测量,仪器应放在坚固、无振动的工作台上,并且在少尘条件下进行测量。
5.仪器不应放在太阳直射、风大或温度变化大的场所。
6.设备接地,保证和高精度。
7.室内应清洁、防尘、无腐蚀性气体。
配置单:
1.炭黑分散度测试仪主机 1台
2.电源线 1根
3.相机 1个
4.相机通讯线 1根
5.载玻片 100 张
6.盖玻片 100 片
7.标准样品校正片 1份
8.镊子 1把
9.燕尾夹 2个
10.说明书 1份
11.软件狗 1个
12.光盘 1张
13.合格证 1份
14.保修卡 1张
工作原理:
炭黑分散度测定仪将现代电子与显微镜方法相结合,用摄像机拍摄经显微镜放大的颗粒图像,图像信号进入计算机内存后,计算机自动对炭黑粒团的尺度(当量直径、长短径、面积、周长等)和形态方面(圆整度、矩形度、长宽比等)进行分析和计算,后给出测试报告。
光学显微镜首先将待测的微小颗粒放大,并成像在CCD摄像机的光敏面上;摄像机将光学图像转换成视频信号,然后经过USB数据线传输并存储在计算机的处理系统里。计算机根据接收到的数字化了的显微图像信号,识别颗粒的边缘,然后按照一定的等效模式,计算各个颗粒的相关参数。一般而言,一幅图像(即图像仪的一个视场)包含几个到上百个不等的颗粒。图像仪能自动计算视场内所有的颗粒的尺寸参数和形态参数,并统计,形成测试报告。当已经测到的颗粒数不够多时,可以通过调整显微镜的载物台,换到下一个视场,继续测试并累计。
一般而言,被测颗粒不是球形的,我们所说的粒径是指等效圆的粒径。在图像仪中,可以根据客户需要取不同的等效方式,例如:等面积圆、等效短径、等效长径等;其点为:除粒度测量外可以进行一般的形貌特征分析,直观、。
一般而言,被测颗粒不是球形的,我们所说的粒径是指等效圆的粒径。在图像仪中,可以根据客户需要取不同的等效方式,例如:等面积圆、等效短径、等效长径等;其点为:除粒度测量外可以进行一般的形貌特征分析,直观、。
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