安捷伦4279A流量计

附加功能:

用于执行晶片掺杂分布的C-V测量。

变容二极管的C-V特性和分类。

射频混频器和开关二极管的电容测试。

为进货检验施加DC偏压测试电容器。

测量时间:10毫秒/20毫秒/30毫秒

测量精度:0.1%(20毫秒)

内部DC偏置:0至+/-38V，0.1%

是德科技安捷伦HP 4279A 1 MHz C-V测量仪为测量半导体的电容与偏置电压特性提供了提高质量和通量的*解决方案。是德科技安捷伦HP 4279A测量范围为0.00001pF至1280.00pF的电容，基本精度为0.1%，显示分辨率为6位数，同时扫描DC偏置电压。由于低偏置电压不确定性，内部可编程DC偏置扫描源在+/-38V范围内具有0.1%的电压精度，可确保极低的测量误差。这使得是德科技安捷伦HP 4279A非常适合变容二极管、MOS二极管等的表征和测试。测量时间可从10ms、20ms和30ms/meas三种模式中选择，以*限度地提高生产率。是德科技安捷伦HP 4279A的快速测距和高速GP-IB数据传输能力减少了测试时间。自动偏置极性控制功能允许为被测器件快速选择正确极性的偏置电压。这一新功能简化了进货/出货检验中的样品手动测试，并为自动测试系统提供了一种简单的极性控制方法。