镀银膜厚仪器产品介绍

EDX 2000A镀银测厚仪是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光膜厚测量技术，专门研发的一款上照式膜厚测试仪。

相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现更加优异，更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动 ， 双激光定位和保护系统 ， 实现对平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦*分析。

设计亮点

上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。

全新的光路，更短的光程，相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。

可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，不仅可适应微小产品，同时也兼顾了台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。 

可编程多点测试，能自动完成对多个样品多个点的测试，大大提高测样效率。

自带数据校对系统，让您永远不再为数据突然变化而担心。

高硬件配置

镀银测厚仪采用进口高分辨率的FAST SDD探测器，高达140ev分辨率，能*地解析每个元素的特征信号，针对复杂底材以及多层复杂镀层，优势巨大。

进口的高功率大高压单元搭配进口大功率X光管，能很好的保障信号输出与激发的稳定性，同时，故障率也极大的降低。

高精度自动化的X轴，Y轴以及Z轴的三维联动，更*快速地完成对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位。

软件界面

人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。 

曲线的中文备注，让您的操作更易上手。

仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

应用领域

电镀行业

电子通讯

航天新能源

五金卫浴

电器设备

汽车制造

磁性材料

贵金属电镀

高校及科研所等

厂家介绍

公司的X荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X射线荧光光谱仪（镀银测厚仪、ROHS分析仪、环保检测仪等）可以应用于任何需要分析Mg以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

 江苏天瑞仪器股份有限公司是具有知识产权的高科技企业，注册资本23088万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。