SGW X-4显微熔点仪(数显)
应用范围:测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
性能指标
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃(在<200℃时) ±2℃(在200~300℃时)
光学放大倍数:目镜10X;物境4X
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测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
【SGW X-4显微熔点仪(数显)产品详情】
性能指标
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
光学放大倍数:目镜10X;物境4X