SGW X-4显微熔点仪:
特点:测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定,显微镜观察。既可用毛细管示测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。 熔点测量范围:室温至320℃ 测量重复性:≤ 200℃: ±1℃, >200℃: ±2℃ 光学放大倍数:目镜10X,物镜4X
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SGW X-4显微熔点仪:
特点:测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定,显微镜观察。既可用毛细管示测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:≤ 200℃: ±1℃,
>200℃: ±2℃
光学放大倍数:目镜10X,物镜4X