光发射显微镜EMMI微光显微镜漏电定位

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p-100

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暂无

更新时间
2020-03-06 13:37:06

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          针对漏电失效模式,必不可少的分析工具。器件在设计、生产制造过程中有绝缘缺陷,或者期间经过外界静电击穿,均会造成器件漏电失效。漏电失效模式的器件在通电得状态下,内部形成流动电流,漏电位置的电子会发生迁移,形成电能向光能的转化,即电能以光能的方式释放,通过红外显微镜探测到这些释放出来的红外线,从而的定位到器件的漏电点。
          光发射显微镜是器件分析过程中针对漏电失效模式,必不可少的分析工具。器件在设计、生产制造过程中有绝缘缺陷,或者期间经过外界静电击穿,均会造成器件漏电失效。漏电失效模式的器件在通电得状态下,内部形成流动电流,漏电位置的电子会发生迁移,形成电能向光能的转化,即电能以光能的方式释放,从而形成200nm~1700nm红外线。光发射显微镜主要利用红外线侦测器,通过红外显微镜探测到这些释放出来的红外线,从而的定位到器件的漏电点。
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