XF802-P30厚度表用来测量薄膜,纸张,塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用,测量表面处理后的表面粗糙度。执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技术指标:
仪器型号
XF802-P30
测量范围
0-1000 μm
显 示
1 μm
仪器尺寸
125*95*25 mm
重 量
270 g
装 箱 单
SP300主机, 说明书和合格证
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XF802-P30厚度表用来测量薄膜,纸张,塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用,测量表面处理后的表面粗糙度。
执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技术指标:
仪器型号
XF802-P30
测量范围
0-1000 μm
显 示
1 μm
仪器尺寸
125*95*25 mm
重 量
270 g
装 箱 单
SP300主机, 说明书和合格证