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冲击试验缺口投影仪
价格
¥453,453.00
型号
SXT-50
品牌
津梁玉衡
所在地
暂无
更新时间
2024-03-19 09:03:17
浏览次数
次
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产品描述
产品简介:
随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验,取代使用了几十年的梅氏U型缺口冲击试验。对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口要求R0.25±0.025mm),故在整个试验过程中,试样的V型缺口是否合格成了关键问题,如果试样缺口的质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,是R0.25mm缺口的微小变化(其公差带只有0.025mm),都会引起试验结果的陡跳,是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证出的夏比V型缺口合格,其缺口的质量检验是一个重要的质量控制手段。目前用光学投影放大检查是切实可行并能保证检查质量的方法。
本投影仪发出的光线经聚光镜照射到被测物,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投在投影屏幕上。根据实际需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影屏上。物体经二次放大和二次发射成正像,在投影屏上看到的图形与实际试样放置的方向是一致的。冲击试样V或U型缺口轮廓放大50倍,投射到高清晰度的液晶投影屏上,与标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口是否合格。
性能特点:
符合标准GB/T229-1994、GB/T229-2007《金属材料夏比缺口冲击试验方法》;
检查夏比V型和U型冲击试样缺口质量的光学仪器
放大50倍,检验结果准确,测量精度高;
标准样板图清晰显示、比对直观方便。
工作台三维调节,定位准确。
现代造型设计,结构紧凑,操作方便。
强力排热系统,散热效果好,性能更稳定。
采用高亮度,长寿命的卤钨灯照明光源
技术参数:
放大倍数:50倍
投影屏直径:200mm
工作台尺寸:
方工作台:110×125mm
圆工作台:90mm
工作台玻璃直径:70 mm
工作台行程:纵向±10mm, 横向±10mm, 升降:12mm
工作台转动范围:0~360°
放大倍率:
仪器:50倍
物镜:2.5倍
投影物镜:20倍
光源(卤钨灯):12V 100W
电源:220V 50Hz 150W
外形尺寸:515×224×603mm(长×宽×高)
重量:18kg
准样板图类型:2mmV U型缺口
执行标准:GB/T 229-2007 EN 10045.1-1990 ASTM E23-2002a标准样板图的缺口尺寸与偏差应满足标准规定
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随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验,取代使用了几十年的梅氏U型缺口冲击试验。对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口要求R0.25±0.025mm),故在整个试验过程中,试样的V型缺口是否合格成了关键问题,如果试样缺口的质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,是R0.25mm缺口的微小变化(其公差带只有0.025mm),都会引起试验结果的陡跳,是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证出的夏比V型缺口合格,其缺口的质量检验是一个重要的质量控制手段。目前用光学投影放大检查是切实可行并能保证检查质量的方法。
本投影仪发出的光线经聚光镜照射到被测物,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投在投影屏幕上。根据实际需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影屏上。物体经二次放大和二次发射成正像,在投影屏上看到的图形与实际试样放置的方向是一致的。冲击试样V或U型缺口轮廓放大50倍,投射到高清晰度的液晶投影屏上,与标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口是否合格。
性能特点:
符合标准GB/T229-1994、GB/T229-2007《金属材料夏比缺口冲击试验方法》;
检查夏比V型和U型冲击试样缺口质量的光学仪器
放大50倍,检验结果准确,测量精度高;
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放大倍数:50倍
投影屏直径:200mm
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方工作台:110×125mm
圆工作台:90mm
工作台玻璃直径:70 mm
工作台行程:纵向±10mm, 横向±10mm, 升降:12mm
工作台转动范围:0~360°
放大倍率:
仪器:50倍
物镜:2.5倍
投影物镜:20倍
光源(卤钨灯):12V 100W
电源:220V 50Hz 150W
外形尺寸:515×224×603mm(长×宽×高)
重量:18kg
准样板图类型:2mmV U型缺口
执行标准:GB/T 229-2007 EN 10045.1-1990 ASTM E23-2002a标准样板图的缺口尺寸与偏差应满足标准规定