4278A
Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|电桥|LCR测试仪|惠普 :安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP Agilent 4278A详细资料: 测量速度:6.5ms/10ms/21ms 测量参数:C-D,Q,ESR,G C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器,用于生 产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电 容器的测试效率(可测量以200μF,这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值)。
技术指标: 测量参数 C-D,Q,ESR,G 测试信号 频率: 1kHz和1MHz±0.02% 信号电平: 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进 测量时间: 6.5ms/10ms/21ms(典型值) 测量范围 测量参数 1kHz 1MHz正常模式 1MHz高精度 C 0.01pF~200.000μF 0.00001pF~1280.00pF 0.00004pF~2663.00pF D 0.00001~9.99999 0.00001pF~9.99999 0.00001pF~0.99999 电缆长度补偿 0,1或2m 比较器: 对电容的10仓室分类,对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试 存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用(存储卡可任选,参见下面的选件
004)。
一般技术指标: 工作温度/湿度 5°~45℃,在40℃时相对湿度为95% 电源
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4278A
Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|电桥|LCR测试仪|惠普
:安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP
Agilent 4278A详细资料:
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器,用于生
产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电
容器的测试效率(可测量以200μF,这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值)。
技术指标:
测量参数
C-D,Q,ESR,G
测试信号
频率:
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平:
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间:
6.5ms/10ms/21ms(典型值)
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿
0,1或2m
比较器:
对电容的10仓室分类,对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用(存储卡可任选,参见下面的选件
004)。
一般技术指标:
工作温度/湿度
5°~45℃,在40℃时相对湿度为95%
电源