厦门市电子天平外校-第三方计量校准机构

世通检测长度实验室主要负责长度计量工作，拥有丰富*工作经验、良好职业技能、敬业爱岗的计量人员。长度室配备了国内*的测长机、大型工具显微镜、二次元、接触式干涉仪、金属线纹尺、光栅式水平仪器，直角尺仪、标准环规、标准球、标准圆柱角尺、标准多面棱体、电脑系统水平仪、百分表千分表仪、大尺寸量块、量块快速检测仪、标准半球等各种仪器计量标准仪器百余种。

可提供仪器校准、仪器校正、仪器计量及维修服务的仪器设备种类有:

通用量具类:
卡尺类、指示表类、千分尺类、角度规、水平仪、测厚仪、比较仪等。

测绘仪器类:
工程质量检测尺、水准尺、经纬仪、建筑工程标准器等。

精测量仪类:
激光孔径仪、光学计、投影仪、测长仪、显微镜、影像测量仪、二次元、接触式干涉仪、圆度仪、坐标测量机(CMM、三次元)、数控机床、加工中心的检测等。

量块量规:
四等及以下量块、步距规、标准针规、标准环规、光滑极限量规、半径样板、螺纹样板等。

线纹:
玻璃线纹尺、各种带标尺放大镜、钢直尺、钢卷尺、塑胶皮尺等。

平面度:
水平仪、平板、平尺、平晶等。

粗糙度:
粗糙度比较样块、粗糙度参数测试等。

螺纹类:
各类公制(M)、美标(UN)、日标(J1S )、管螺纹(G)等螺纹规的检测。

玩具轻工检测类:
小物件测试圆筒、摇铃测试仪、曲绕测试仪、利边测试仪、尖点测试器、奶嘴测试器、拉力钳、压力头、测试手指等各种测试器。鞋业、纺织、自行车、模具、机加工琴部件等空间高精度尺寸的测量等。

概述

特点：符合阿贝原理、精度高、使用方便。
阿贝原理：被测量线应与测量线相重合或在其延长线上。
外径千分尺的分度值一般为0.01mm和0.001mm，移动量为25mm。
有测力装置，保持恒定的测量力。
分类和结构

数显外径千分尺

工作原理

运用螺旋副传动原理，借助测微螺杆与螺母配合，将螺杆的回转运动变为直线运动，从固定套管和微分筒上读出长度尺寸。

读数

读数原理：微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准线，纵刻线上下有50个分度，每个分度为0.5mm。微分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm, 微分筒旋转一周。微分螺杆移动0.5mm，微分筒旋转一个分度时（1/50转）测微螺杆移动0.01mm。

校准和技术要求

按现行有效版本JJG21-2008
主要校准设备
3、4等量块（量块）

平面平晶、平行平晶、刀口尺

测力仪
1、外观和各部分相互作用：目力观察和手动试验

2、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：手感检查

必要时使用杠杆千分尺检查（ 要求≤0.01mm）

3、测力：用分度值不大于0.2N的测力计

测力应为（5～10）N

4、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离：

用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量（ ≤ 0.4mm ）

5、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离：

当测量下限调整正确后，读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量

要求：压线≤0.05mm 离线≤0.1mm

6、测量面的平面度：用平面平晶以技术光波干涉法

对于后续校准的可用刀口尺以光隙法

要求: 外径千分尺 ≤0.6um

壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um

数显外径千分尺≤0.3um

7、数显外径千分尺的示值重复性：

在相同条件下重复测量5次分别读数，以*与*小读数差确定

要求： ≤1um

8、两测量面的平行度：测量上限至100mm用平行平晶检查，或可用量块检查。

采用量块时，其4块尺寸差为1/4螺距，每个量块以其同一部位放入下图所示的测量面间的4个位置上分别读数，以四组差值中*值来确定。

千分尺示值的*允许误差及两测量面的平行度

9、示值误差：

外径（壁厚、板厚）用5等量块，数显用4等量块校准，或用千分尺量块。

在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量。

(A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00)

A—测量下限值

示值误差要求见上表

10、数显千分尺的细分误差：在任意位置上，沿测量方向转动微分筒，每间隔0.04mm检查一次，共计12次，分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差，以其*差值确定。

要求≤±2um

11、校对用量杆（尺寸及变动量）:

外径：在光学计或测长机上用4等量块以比较法

数显：在光学计或测长机上用3等量块以比较法

变动量：如图所示5点中*与*小尺寸之差

千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量

正确使用和注意事项

测量前应将测量面及被测件擦试干净，等温2H（20℃±5）
千分尺的零位调整
千分尺两测量面与量块接触时，要使用测力装置，不要转动微分筒，以测力装置的棘轮断续响3声读数为准czy4583