Uniscan M470 微区扫描电化学工作站-扫描电化学显微镜

扫描电化学显微系统（SECM）

交流扫描电化学显微镜系统（ac-SECM）

间歇接触扫描电化学显微镜系统（ic-SECM）

微区电化学阻抗测试系统(LEIS)

扫描振动点击测试系统（SVET）

电解液微滴扫描系统（SDS）

交流电解液微滴扫描系统（ac-SDS）

扫描开尔文探针测试系统（SKP）

非触式微区形貌测试系统（OSP）

*的性能

快速*的闭环定位系统为电化学扫描探针纳米级研究的需求而特别设计。结合Uniscan 的混合型32-bit DAC技术，用户可以选择合适实验研究的*配置

*和灵活的工作平台

系统可提供9种探针技术，使得M470成为全球*灵活的电化学扫描滩镇工作平台。

全面的附件

7种模块可选，3种不同电解池，各式探针，长距显微镜以及后处理数据分析软件。

M470新产品特征

SECM自动处理曲线

SECM用户自定义处理曲线步长变化

高分辨率读取

手动或自动调节相位

M470同时具备如下特点：

倾斜校正

X或Y曲线相减（5阶多项式）

2D或3D快速傅里叶变化

实验，探针移动和区域绘图的自动排序

图形实验测序引擎（GESE）

支持多区域扫描

所有实验多个数据视图

峰值分析

M470是由Uniscan仪器开发的第四代扫描探针系统，具有更高规格和更多探针技术。

M470技术参数

工作站（所有技术）

扫描范围（x,y,z）             大于100mm

扫描驱动分辨率                 *0.1nm

闭环定位                          线性零滞后编码器，直接实时读出x,z和y位移

轴分辨率（x,y,z）             20nm

*扫描速度                    12.5mm/s

测量分辨率                       32-bit解码器@高达40MHz

压电（ic-和ac-扫描探针技术）

振动范围                          20nm~ 2μm峰与峰之间1nm增量

*小振动分辨率                 0.12nm(16-bit DAC,4μm)

压电晶体伸展                    100μm

定位分辨率                       0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

机电

扫描前端                          500×420×675mm(H×W×D)

扫描控制单元                    275×450×400mm(H×W×D)

功率 250W