DIATEST内径表式测量系统的特性是于手持,适用于大多数的孔径测量可大尺寸测量。可以使用内径千分尺或校对环规进行校准。量仪通过中心桥构造可以自动对正中心。
内径表式测量系统有标准和盲孔两种形式。
测头结构
量仪参数
1:测头
测头形式:标准
2:延长杆
测量范围:19.45-34.50mm
3:测砧
重复精度:0.001mm
线性误差:0.006mm测量行程
测量深度:可达3m
测点半径:8m
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DIATEST内径表式测量系统的特性是于手持,适用于大多数的孔径测量可大尺寸测量。可以使用内径千分尺或校对环规进行校准。量仪通过中心桥构造可以自动对正中心。
内径表式测量系统有标准和盲孔两种形式。
测头结构
量仪参数
1:测头
测头形式:标准
2:延长杆
测量范围:19.45-34.50mm
3:测砧
重复精度:0.001mm
线性误差:0.006mm测量行程
测量深度:可达3m
测点半径:8m