二次元影像测量仪
产品名称:二次元影响测量仪
产品型号:WSMS-2010
产品简介:本仪器适用于以二次元测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。
仪器具有多种数据处理、显示、输入、输出功能,特别:
1工作台以圆转工作台的方式将工件摆正,使测量更快速方便!简宜好学!
2 配有激光定位功能,将产品需要测量部分快速准确的定位!提高测量效率等功能非常实用;仪器备有RS-232接口,与电脑连接后,采用测量软件测绘图形进行处理及输出。
主要功能:
可测量平面上的任何几何尺寸,包括直径、半径、长度、角度、宽度、高度、深度、点到点的距离 二次元测量仪、点到线的距离、圆心距等等。l 具有零件拍照功能,可以更直观的进行比对
软件可随时分析测量数据
测量数据可直接导入WordExcel中进行分析
具有自动寻边的功能,使测量更加快速、
快捷键功能,可使操作者快速、便捷的进行测量
可保存为DXF格式,与AutoCAD软件无缝传输数据
可直接在AutoCAD中编辑、使用、使测量结果处理更方便,快捷。
产品特点:
自动抓取测量功能(自动捕捉点、线、圆,圆弧等)将工件放置在软件主界面中时,只需选取相应的绘图命令,软件智能地自动绘出工件实时影像中的线、圆等图元,这种绘图方法较肉眼取点更更快速,而且避免了人为误差。
2、基于智能图像处理的高精度光学辅助对焦和测高功能:具备自动和手动对焦功能,选定目标区域后自动或手动移动Z轴,可搜索到清晰位置。软件自动捕捉、判别,将人为误差降至低。
3、地图功能:人性化的地图导航功能可以帮助你在大工件上快速定位局部位置,缩短了操作需要的寻找时间。打开地图可以虚拟测量或导航。
4、全自动及手动CNC测量:CNC编程测量分为全自动和手动模式,在全自动CNC模式下,进行大批量工件检测时,只需要对测量过程进行一次编程即可自动进行多次全自动重复测量。对于手动工作台采用手动CNC模式,可实现模拟CNC的自动测量功能,提高工作效率。
5、阵列测量:阵列测量可以对同一工件上阵列分布的部分进行自动测量,只需对阵开分布的部分进行编程并对阵开分布规则设置后即可自动进行测量。
6、图纸比对:打开CAD设计图纸,与实际影像不吻合,使用图纸比对中的摆正功能可以将打开的图纸与影像重合。使用摆正后的图形,可以进行测量或做简单比对。
7、SPC统计:内置SPC(统计过程控制)功能,可以在测量后读取的测量数据,生成X-R、Xm-R等控制图,并计算大值,小值、平均值、标准差、偏移值、Ca、Cp、Cpk等统计系数。
以上为二次元影像测量仪的简单介绍,若需了解更详细的资料请联系我们,我们将竭诚为您服务!
韦斯实验设备有限公司
联系人:刘先生
电话:
传真:
邮箱:weisstest@163.com
网站:http://www.weiss.net.cn
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产品型号:WSMS-2010
产品简介:本仪器适用于以二次元测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。
仪器具有多种数据处理、显示、输入、输出功能,特别:
1工作台以圆转工作台的方式将工件摆正,使测量更快速方便!简宜好学!
2 配有激光定位功能,将产品需要测量部分快速准确的定位!提高测量效率等功能非常实用;仪器备有RS-232接口,与电脑连接后,采用测量软件测绘图形进行处理及输出。
主要功能:
可测量平面上的任何几何尺寸,包括直径、半径、长度、角度、宽度、高度、深度、点到点的距离 二次元测量仪、点到线的距离、圆心距等等。l 具有零件拍照功能,可以更直观的进行比对
软件可随时分析测量数据
测量数据可直接导入WordExcel中进行分析
具有自动寻边的功能,使测量更加快速、
快捷键功能,可使操作者快速、便捷的进行测量
可保存为DXF格式,与AutoCAD软件无缝传输数据
可直接在AutoCAD中编辑、使用、使测量结果处理更方便,快捷。
产品特点:
自动抓取测量功能(自动捕捉点、线、圆,圆弧等)将工件放置在软件主界面中时,只需选取相应的绘图命令,软件智能地自动绘出工件实时影像中的线、圆等图元,这种绘图方法较肉眼取点更更快速,而且避免了人为误差。
2、基于智能图像处理的高精度光学辅助对焦和测高功能:具备自动和手动对焦功能,选定目标区域后自动或手动移动Z轴,可搜索到清晰位置。软件自动捕捉、判别,将人为误差降至低。
3、地图功能:人性化的地图导航功能可以帮助你在大工件上快速定位局部位置,缩短了操作需要的寻找时间。打开地图可以虚拟测量或导航。
4、全自动及手动CNC测量:CNC编程测量分为全自动和手动模式,在全自动CNC模式下,进行大批量工件检测时,只需要对测量过程进行一次编程即可自动进行多次全自动重复测量。对于手动工作台采用手动CNC模式,可实现模拟CNC的自动测量功能,提高工作效率。
5、阵列测量:阵列测量可以对同一工件上阵列分布的部分进行自动测量,只需对阵开分布的部分进行编程并对阵开分布规则设置后即可自动进行测量。
6、图纸比对:打开CAD设计图纸,与实际影像不吻合,使用图纸比对中的摆正功能可以将打开的图纸与影像重合。使用摆正后的图形,可以进行测量或做简单比对。
7、SPC统计:内置SPC(统计过程控制)功能,可以在测量后读取的测量数据,生成X-R、Xm-R等控制图,并计算大值,小值、平均值、标准差、偏移值、Ca、Cp、Cpk等统计系数。
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