日本NF LCR测试仪ZM系列概述
测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域 实现了快速且偏差小的稳定测量,可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途
日本NF LCR测试仪ZM系列偏差小的高再现性 测量示例
按照以下条件使用ZM2372和ZM2376,对1nF的电容反复测量200次后得到的结果。 使用ZM2376,测量的再现性得到了进一步提高。
技术参数
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日本NF LCR测试仪ZM系列概述
测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域
实现了快速且偏差小的稳定测量,可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途
日本NF LCR测试仪ZM系列偏差小的高再现性 测量示例
按照以下条件使用ZM2372和ZM2376,对1nF的电容反复测量200次后得到的结果。
使用ZM2376,测量的再现性得到了进一步提高。
测量频率:100kHz
测量信号电平:1V
技术参数