杭州试验量具校准校验公司
理化类仪器校准:可调移液器、常用玻璃量器(量筒、烧杯、容量瓶等)、pH计、密度计、波美计、白度计、声级计、照度计、光泽度计、旋转粘度计、紫外分光光度计、原子吸收分光光度计、色差仪、电位滴定仪、X射线荧光光谱仪(ROHS检测仪)、电导率仪、气相色谱仪、液相色谱仪、频闪仪、透光率仪、木材水分测湿仪、标准光源箱等
杭州试验量具校准校验公司图(1) 紫外可见分光光度计工作的原理
紫外可见吸收光谱是由于分子中的某些基团吸收了紫外可见辐射光后,发生了电子能级跃迁而产生的吸收光谱。由于各种物质具有各自不同的分子、原子和不同的分子空间结构,其吸收光能量的情况也就不会相同;因此,每种物质就有其特有的、固定的吸收光谱曲线,可根据吸收光谱上的某些特征波长处的吸光度的高低判别或测定该物质的含量,这就是分光光度定性和定量分析的基础。 分光光度分析就是根据物质的吸收光谱研究物质的成分、结构和物质间相互作用的有效手段。它是带状光谱,反映了分子中某些基团的信息。可以用标准光图谱再结合其它手段进行定性分析。
流量计测量精度低流量计在结构上,流量计包括三个单元:传感器单元、计量单元和通信单元。这些单元或功能块中的每一个都可以是机械式或电子式。住宅和工业应用中的流量计示例在大部分流量计的设计中,其活动部件都会使用机械感测。,使用电感电容器(LC)、巨磁电阻(GMR)、隧道式磁阻(TMR)或霍尔效应传感器捕获螺旋桨或叶轮的运动,该运动根据流量而变化,并被转换成数据并传递给测量单元。因为有活动部件,所以可能会出现磨损和不准确的情况。 杭州试验量具校准校验公司图(2) 无论是实验室环境还是生产车间,都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件平台和PXI功能,以帮助芯片制造商应对他们面临的挑战,这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高和占地面积小,NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能,它能提供更高的直流通道密度,使多站点应用具有更高的并行性,以及在生产中提供实验室级别的测量质量。 紫外可见分光光度计的操作步骤 1.开机自检:打开主机电源,仪器开始初始化;约3分钟时间初始化完成,初始化完成后仪器进入主菜单界面。 2.进入光度测量状态后按“ENTER”键进入光度测量主界面;按“RETURN”键返回上一级菜单。 3.进入测量界面:按“START/STOP”键进入样品测定界面。 4.设置测量波长:按“GOTO入”键,在界面中输入测量的波长,例如需要在460nm测量,输入460,按“ENTER”键确认,仪器将自动调整波长。 在这个*求极薄极轻的时代,如何在小体积内塞进一块功率很大的电池来保证续航已成为行业内需克服的重点。对于手机电池的模拟测试也越来越被行业重视。相比较于去使用一个真实的电池进行测试,通过模拟电池特性去测试电池有着非常多的好处。首先,仿真电池能够非常有效地减少测试时间,提供重复性的测试结果并且创造一个安全的测试环境。另外,通过测试电池温度和老化测试,也可以减少准备时间,避免操作者的失误以及结果的偏差等因素。 杭州试验量具校准校验公司(3) 5.进入设置参数:这个步骤中主要设置样品池。按“SET“键进入参数设定界面,按“下”键使光标移动到“试样设定”。按“ENTER”键确认,进入设定界面。 6.设定使用样品池个数:按“下”键使光标移动到“使用样池数”,按“ENTER”键循环选择需要使用的样品池个数。(主要根据使用比色皿数量确定,比如使用2个比色皿,则修改为2) 7.样品测量:按“RETURN”键返回到参数设定界面,再按“RETURN”键返回倒光度测量界面。在1号样品池内放入空白溶液,2号池内放入待测样品。关闭好样品池盖后按“ZERO”键进行空白校正,再按“START/STOP”键进行样品测量。如需要测量下一个样品,取出比色皿,更换为下一个测量的样品按“START/STOP”键即可读数。如需更换波长,可直接按“GOTO入”键调整波长。注意更换波长后必须重新按“ZERO”进行空白校正。如果每次使用的比色皿数量是固定个数,下一次使用仪器可以跳过第2.5、2.6步骤直接进入样品测量。 杭州试验量具校准校验公司图(4) LMH6703频响使用差分放大器是将高频模拟信号与ADC的输入相连的方法。需要选择的个器件就是差分输出运算放大器。选择这类器件时,主要有两个考虑因素:增益带宽积和从外部电压设置运算放大器的共模输出电压的能力。这是因为驱动ADC输入的信号放大器将共模输出电压(VCMO)设置在的ADC范围内是很重要的。如果不能满足这些条件,ADC的性能会随着放大器的VCMO和ADC的输入共模电压间不一致程度的增加而大幅降低。stwg139wei 整流电路测试是教育课程及相关电子行业不可缺少的环节。以下波形由非隔离信号源产生。当使用非隔离信号源时,D1二极管的每一端分别与信号源和示波器的相应地线连接。这种方式会出现等电位短路,因此不能显示负半周整流波形。以下波形由隔离通道信号源产生。隔离信号源的输出信号地线不与示波器共同接地,因此可以模拟整流波形输出。只有隔离的信号源才能显示桥式整流电路的正确波形。为了实现上述实验目标,一些非隔离信号源的用户倾向于断开电源线的接地,从而导致仪器浮地。
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紫外可见分光光度计工作的原理
紫外可见吸收光谱是由于分子中的某些基团吸收了紫外可见辐射光后,发生了电子能级跃迁而产生的吸收光谱。由于各种物质具有各自不同的分子、原子和不同的分子空间结构,其吸收光能量的情况也就不会相同;因此,每种物质就有其特有的、固定的吸收光谱曲线,可根据吸收光谱上的某些特征波长处的吸光度的高低判别或测定该物质的含量,这就是分光光度定性和定量分析的基础。
分光光度分析就是根据物质的吸收光谱研究物质的成分、结构和物质间相互作用的有效手段。它是带状光谱,反映了分子中某些基团的信息。可以用标准光图谱再结合其它手段进行定性分析。
流量计测量精度低流量计在结构上,流量计包括三个单元:传感器单元、计量单元和通信单元。这些单元或功能块中的每一个都可以是机械式或电子式。住宅和工业应用中的流量计示例在大部分流量计的设计中,其活动部件都会使用机械感测。,使用电感电容器(LC)、巨磁电阻(GMR)、隧道式磁阻(TMR)或霍尔效应传感器捕获螺旋桨或叶轮的运动,该运动根据流量而变化,并被转换成数据并传递给测量单元。因为有活动部件,所以可能会出现磨损和不准确的情况。
杭州试验量具校准校验公司图(2)
无论是实验室环境还是生产车间,都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件平台和PXI功能,以帮助芯片制造商应对他们面临的挑战,这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高和占地面积小,NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能,它能提供更高的直流通道密度,使多站点应用具有更高的并行性,以及在生产中提供实验室级别的测量质量。
紫外可见分光光度计的操作步骤
1.开机自检:打开主机电源,仪器开始初始化;约3分钟时间初始化完成,初始化完成后仪器进入主菜单界面。
2.进入光度测量状态后按“ENTER”键进入光度测量主界面;按“RETURN”键返回上一级菜单。
3.进入测量界面:按“START/STOP”键进入样品测定界面。
4.设置测量波长:按“GOTO入”键,在界面中输入测量的波长,例如需要在460nm测量,输入460,按“ENTER”键确认,仪器将自动调整波长。
在这个*求极薄极轻的时代,如何在小体积内塞进一块功率很大的电池来保证续航已成为行业内需克服的重点。对于手机电池的模拟测试也越来越被行业重视。相比较于去使用一个真实的电池进行测试,通过模拟电池特性去测试电池有着非常多的好处。首先,仿真电池能够非常有效地减少测试时间,提供重复性的测试结果并且创造一个安全的测试环境。另外,通过测试电池温度和老化测试,也可以减少准备时间,避免操作者的失误以及结果的偏差等因素。
杭州试验量具校准校验公司(3)
5.进入设置参数:这个步骤中主要设置样品池。按“SET“键进入参数设定界面,按“下”键使光标移动到“试样设定”。按“ENTER”键确认,进入设定界面。
6.设定使用样品池个数:按“下”键使光标移动到“使用样池数”,按“ENTER”键循环选择需要使用的样品池个数。(主要根据使用比色皿数量确定,比如使用2个比色皿,则修改为2)
7.样品测量:按“RETURN”键返回到参数设定界面,再按“RETURN”键返回倒光度测量界面。在1号样品池内放入空白溶液,2号池内放入待测样品。关闭好样品池盖后按“ZERO”键进行空白校正,再按“START/STOP”键进行样品测量。如需要测量下一个样品,取出比色皿,更换为下一个测量的样品按“START/STOP”键即可读数。如需更换波长,可直接按“GOTO入”键调整波长。注意更换波长后必须重新按“ZERO”进行空白校正。如果每次使用的比色皿数量是固定个数,下一次使用仪器可以跳过第2.5、2.6步骤直接进入样品测量。
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LMH6703频响使用差分放大器是将高频模拟信号与ADC的输入相连的方法。需要选择的个器件就是差分输出运算放大器。选择这类器件时,主要有两个考虑因素:增益带宽积和从外部电压设置运算放大器的共模输出电压的能力。这是因为驱动ADC输入的信号放大器将共模输出电压(VCMO)设置在的ADC范围内是很重要的。如果不能满足这些条件,ADC的性能会随着放大器的VCMO和ADC的输入共模电压间不一致程度的增加而大幅降低。stwg139wei
整流电路测试是教育课程及相关电子行业不可缺少的环节。以下波形由非隔离信号源产生。当使用非隔离信号源时,D1二极管的每一端分别与信号源和示波器的相应地线连接。这种方式会出现等电位短路,因此不能显示负半周整流波形。以下波形由隔离通道信号源产生。隔离信号源的输出信号地线不与示波器共同接地,因此可以模拟整流波形输出。只有隔离的信号源才能显示桥式整流电路的正确波形。为了实现上述实验目标,一些非隔离信号源的用户倾向于断开电源线的接地,从而导致仪器浮地。
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