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 雷达测试仪是通过微波来测量运动物体的速度，它基于多普勒原理，既当微波照射到运动的物体上时，会产生一个与运动物体速度成比率的一个变化，其变化大小正比于物体运动的速度。如当目标离雷达天线越近时，反射信号频率将高于发射机频率，反之，亦然。雷达枪就是根据这一原理研制的。
    雷达发射的微波以一个扇型的方式出去（S1），在照射区域内的目标会对微波形成一个反射（S2），其中依据实际测量的要求，雷达又分为两种工作模式：一种是静态工作模式，一种是动态工作模式。所谓静态：即雷达静止不动（不在运动的巡逻车内），测迎面来的汽车或同向远离的汽车。所谓动态：既雷达处于运动状态（一般在运动的巡逻车内），测迎面来的汽车或同向远离的汽车，在动态情况下，测试一般又分为反向测量和同向测量，反向测量：测试的目标和巡逻车的运动方向相反，同向测量：测试的目标和巡逻车的运动方向相同。选用不同的测试状态，雷达使用不同的运算规则。雷达本身不易判别目标的运动方向。。
激光的出现和应用被称为人类使用工具的第三次飞跃。纵观科技发展的历史，能源获取方式不断更新，促进了科技文明等级的不断提高。从燃烧木柴得到火源，到开发各种化石燃料获得机械动能，直至依靠核能、元素衰变获取能源，输出电力，我们一直在探索和开发能量利用和储备的新途径。激光，作为全新的能量利用方式，被誉为“快的刀”和“准的尺”。大家也*激光加工是“未来制造系统的共同加工手段”。与机械加工相比，激光加工面对的对象非常广泛，几乎没有任何行业限制；过程完全可以采取非接触的方式展开，符合新经济工厂微型化的大趋势；产生的能耗极低，环保效益极高；加工速度快，可以同自动控制、智能生产结合。

是全实物测试，将待测装备置于演或实际，利用实际存在的复杂电磁环境对装备性能进行测试。此种方式具说服力，通常作为成熟型号装备的终测试方法。因为此方式成本极高、风险大，很多场合是破坏性测试，并且所得到测试结果不具备遍历性，无法满足装备研制过程中的绝大多数的常规测试需求。第二种是基于计算机、数据库等技术的全数字仿真测试。这种技术是通过数据采集或者数学建模的方式，将实际电磁环境的主要特征信息以数字格式存储于数据库中，在某种特定仿真算法的驱动下，对待测装备的性能进行全数字仿真测试。




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在黑暗环境里，它的电阻值很高，当受到光照时，只要光子能量大于半导体材料的禁带宽度，则价带中的电子吸收一个光子的能量后可跃迁到导带，并在价带中产生一个带正电荷的空穴，这种由光照产生的电子—空穴对了半导体材料中载流子的数目，使其电阻率变小，从而造成光敏电阻阻值下降。光照愈强，阻值愈低。入射光消失后，由光子激发产生的电子—空穴对将复合，光敏电阻的阻值也就恢复原值。在光敏电阻两端的金属电极加上电压，其中便有电流通过，受到波长的光线照射时，电流就会随光强的而变大，从而实现光电转换。光敏电阻没有极性，纯粹是一个电阻器件，使用时既可加直流电压，也加交流电压。半导体的导电能力取决于半导体导带内载流子数目的。

取用时，若瓶塞顶是扁平的。可将瓶塞倒置分析台上，若瓶塞顶不是扁平的，可用食指和中指将瓶塞夹持或放在清洁干燥的表面皿上，严禁将瓶塞横置在分析台上；对固体试剂应用干净的药勺取用，若试剂结块，可用洁净干燥的粗玻璃棒或不锈钢药刀将其捣碎后再取。取出试剂后，应立即盖紧瓶塞，以防搞错瓶塞，污染试剂。用过的药勺和玻璃棒必须及时洗净。一般固体试剂可在干净的蜡光纸上称量，具有腐蚀性，强氧化性或易潮解的固体试剂应在下班器皿内称量，绝不能用滤纸来称量。
光敏电阻的工作原理是基于内光电效应。在半导体光敏材料两端装上电极引线，将其封装在带有透明窗的管壳里就构成光敏电阻，为了增加灵敏度，两电极常做成梳状。用于制造光敏电阻的材料主要是金属的硫化物、硒化物和碲化物等半导体。通常采用涂敷、喷涂、烧结等方法在绝缘衬底上制作很薄的光敏电阻体及梳状欧姆电极，接出引线，封装在具有透光镜的密封壳体内，以免受潮影响其灵敏度。

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LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。假如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想办法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想办法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。stwg139wei
 

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