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HIOKI/日本日置 IM3533-01 LCR测试仪(1mHz~20...

价格

电议

型号

IM3533-01

品牌

HIOKI/日本日置

所在地

广东省佛山市

更新时间

2019-01-30 18:50:02

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产品简介

HIOKI/日本日置 IM3533-01 LCR测试仪(1mHz~200kHz)

应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域

基本精度±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz，5mV~5V，10μA~50mA)。
在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度比以往产品快10倍。
内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
(测量速度是以往产品3522-50的10倍，大大提高了反复性和稳定性)
模式，用于测量变压器线圈比率，互感系数和温度补偿DCR。
频率扫描测试(仅IM3533-01)
除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
内置比较器和BIN功能。
2毫秒的快速测试时间。

本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。

HIOKI/日本日置 IM3533-01 LCR测试仪(1mHz~200kHz)技术参数

型号	IM3533	IM3533-01
测量模式	LCR，变压器测试(N,M,△L)，连续测试(LCR模式)	LCR，变压器测试(N,M,△L)，分析仪(扫描测试)，连续测试(LCR/分析模式)
测量参数	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T
测量量程	100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位] ~9.999999G [单位]) 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999) Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率	40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
测量信号级	[输出阻抗] V模式，CV模式：5mV~5Vrms,1mVrms CC模式：10μA~50mArms,10μArms [低阻抗高精度模式] V模式，CV模式：5mV~2.5Vrms,1mVrms CC模式：10μA~100mArms,10μArms
输出阻抗	正常模式：100Ω,低阻抗高精度模式：25Ω
显示	5.7英寸触摸屏，彩色TFT，显示可设置ON/OFF
测量时间	2ms(1kHz,FAST,显示OFF，代表值)
功能	DC偏置测量，DC电阻温度补偿 (转换参考温度显示),比较器，BIN测量(分类功能),节点负载/补偿，记忆功能
接口	EXT I/O(处理器)，USB通信(高速)，USB存储选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源	100~240V AC，50/60Hz，大50VA
尺寸，重量	330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg
附件	电源线×1，操作手册×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

HIOKI/日本日置 IM3533-01 LCR测试仪(1mHz~200kHz)选件

探头和测试治具	4端子探头 L2000(DC~5MHz, 1m) 4端子探头 9140-10(DC~200kHz,1m) 针型探头 9143-10(DC~5MHz, 1m) 测试夹具 9261-10(DC~5MHz, 1m) 测试冶具 9262(DC~5MHz) SMD测试冶具 9263(DC~5MHz) SMD测试冶具 9677(DC~120MHz) SMD测试冶具 9699(DC~120MHz)
PC通讯	GP-IB接口 Z3000 RS-232C接口 Z3001 LAN接口 Z3002 GP-IB连接线 9151-02
温度探头	针型温度探头 9478