JK-200AD-ET/70砂位检测仪
技术参数:
测量原理
FMCW-调频连续波
频率
10GHz(X波段)
精度
±5mm (1m内为30mm)
量程
150m
重复性
0.5mm
分辨率
0.3mm
波束角
18°
本地显示
OLED显示屏
信号输出
4~20mA/HART
继电器输出
高低位报警及补料区间指示功能,400V/150mA
供电电源
AC型:220V(±15%)50Hz 10W DC型:24V (18~30VDC) 8W
环境温度
-40ºC~+65 ºC
过程温度
通用型:-40ºC~+65 ºC 高温型:-40 ºC~ +200℃
工作湿度
0~95% 相对湿度 (无冷凝)
防护等级
IP65
产品优点:
1、仪表能够克服粉尘、水蒸气等恶劣工况的影响,保障测量准确、稳定。
2、大波束角检测全面提升固体料面料位数据测量代表性,使测量数据更能够真实反馈仓内料位情况,为提升工业大脑智能化建设应用、为用户更准确的评估仓内物料余量提供更具有代表性的基础料位数据。
3、具备全面的检测功能模式,可根据现场要求结合实际的料位状况输出平均、*、*低等料位信息。
4、仪表单台可测料面范围大,实现具有代表性的料面料位测量所需投用的仪表数量更少。在实现了经济价值的同时,也减少了自动化系统维护中可能出现的故障点,提高了智能化系统的整体稳定性。
产品介绍:
JK-200AD-ET/70砂位检测仪采用四线制X波段FMCW制式并与军工技术*结合,仪表综合检测性能指标高,测量不受粉尘、入料噪音、气流和温度变化等条件的影响。在保证了严苛工况条件下准确、稳定测量的基础上实现了大波束角检测技术的应用,将固体物位测量从点检测推向了面检测的新领域,在相同的垂直测量距离下,18°波束角的照射范围是8°仪表的5倍,是4°仪表的20倍,提高了检测数据的代表性。产品应用在一般固体物位测量工况中即可表现出其优异的通用测量能力,在极度粉尘及料仓内存在多种影响测量的干扰因素工况下更可为用户提供其独树一帜的测量分析解决方案。与采用脉冲测量原理的雷达物位计相比,即使在极度粉尘、料位快速变化等工况下也不会出现“丢波”或“锁波”现象,检测极为稳定可靠。仪表具备五种功能模式,可根据用户不同的生产阶段输出平均、*、*低等具有代表性的物位信息,为用户准确评估仓内物料余量、加强库存动态过程控制、优化库存结构、整体提升智能化生产、精细化的库存管理水平提供可靠的基础数据。
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JK-200AD-ET/70砂位检测仪
技术参数:
测量原理
FMCW-调频连续波
频率
10GHz(X波段)
精度
±5mm (1m内为30mm)
量程
150m
重复性
0.5mm
分辨率
0.3mm
波束角
18°
本地显示
OLED显示屏
信号输出
4~20mA/HART
继电器输出
高低位报警及补料区间指示功能,400V/150mA
供电电源
AC型:220V(±15%)50Hz 10W
DC型:24V (18~30VDC) 8W
环境温度
-40ºC~+65 ºC
过程温度
通用型:-40ºC~+65 ºC
高温型:-40 ºC~ +200℃
工作湿度
0~95% 相对湿度 (无冷凝)
防护等级
IP65
产品优点:
1、仪表能够克服粉尘、水蒸气等恶劣工况的影响,保障测量准确、稳定。
2、大波束角检测全面提升固体料面料位数据测量代表性,使测量数据更能够真实反馈仓内料位情况,为提升工业大脑智能化建设应用、为用户更准确的评估仓内物料余量提供更具有代表性的基础料位数据。
3、具备全面的检测功能模式,可根据现场要求结合实际的料位状况输出平均、*、*低等料位信息。
4、仪表单台可测料面范围大,实现具有代表性的料面料位测量所需投用的仪表数量更少。在实现了经济价值的同时,也减少了自动化系统维护中可能出现的故障点,提高了智能化系统的整体稳定性。
产品介绍:
JK-200AD-ET/70砂位检测仪采用四线制X波段FMCW制式并与军工技术*结合,仪表综合检测性能指标高,测量不受粉尘、入料噪音、气流和温度变化等条件的影响。在保证了严苛工况条件下准确、稳定测量的基础上实现了大波束角检测技术的应用,将固体物位测量从点检测推向了面检测的新领域,在相同的垂直测量距离下,18°波束角的照射范围是8°仪表的5倍,是4°仪表的20倍,提高了检测数据的代表性。产品应用在一般固体物位测量工况中即可表现出其优异的通用测量能力,在极度粉尘及料仓内存在多种影响测量的干扰因素工况下更可为用户提供其独树一帜的测量分析解决方案。与采用脉冲测量原理的雷达物位计相比,即使在极度粉尘、料位快速变化等工况下也不会出现“丢波”或“锁波”现象,检测极为稳定可靠。仪表具备五种功能模式,可根据用户不同的生产阶段输出平均、*、*低等具有代表性的物位信息,为用户准确评估仓内物料余量、加强库存动态过程控制、优化库存结构、整体提升智能化生产、精细化的库存管理水平提供可靠的基础数据。